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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
HWS, VLD
(共催)
2023-03-03
13:50
沖縄 沖縄県青年会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
論理圧縮を用いた機能修正回路による論理ロック手法
野口葉平吉村正義京都産大)・三浦 怜細川利典日大VLD2022-107 HWS2022-78
近年,VLSIの大規模化に伴い,VLSI設計会社は,コスト削減を目的に設計データへのIPコアの利用やファブレス化の傾向が... [more] VLD2022-107 HWS2022-78
pp.185-190
DC 2022-03-01
13:45
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
RTLにおけるSFLL-hdに基づいた論理暗号化手法
野口葉平吉村正義京都産大)・辻川敦也細川利典日大DC2021-72
近年,VLSIの集積度の増加に伴い,LSI設計会社は設計コスト削減のためIPベンダよりIPコアと呼ばれるある機能を持った... [more] DC2021-72
pp.45-50
DC 2021-12-10
14:00
香川 国民宿舎小豆島(ふるさと荘交流センター)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
レジスタ転送レベルにおけるSAT攻撃とFALL攻撃に耐性のある論理暗号化手法
辻川敦也細川利典日大)・吉村正義京都産大DC2021-57
近年,大規模化に伴いVLSIを設計会社1社のみで設計を行うのが困難になり,IPベンダよりIPコアを購入し必要な部分のみを... [more] DC2021-57
pp.13-18
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
11:00
ONLINE オンライン開催 ニューラルネットワークを用いた被疑論理故障信号線の欠陥種類推定法
太田菜月細川利典日大)・山崎浩二明大)・山内ゆかり新井雅之日大CPSY2020-61 DC2020-91
特定の故障モデルの故障診断は誤診断や解なしという診断を起こす可能性があるため,スキャン設計回路を対象としたマルチサイクル... [more] CPSY2020-61 DC2020-91
pp.67-72
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
12:00
ONLINE オンライン開催 レジスタ転送レベルにおけるアンチSATに基づく論理暗号化法
辻川敦也細川利典日大)・吉村正義京都産大CPSY2020-64 DC2020-94
近年,大規模化に伴いVLSIを設計会社1社のみで設計を行うのが困難になり,IPベンダよりIPコアを購入し必要な部分のみを... [more] CPSY2020-64 DC2020-94
pp.85-90
HWS, VLD
(共催) [詳細]
2020-03-05
11:20
沖縄 沖縄県青年会館
(開催中止,技報発行あり)
遅延故障に起因する回路寿命分布の確率的高速推定手法
富山葉月増田 豊石原 亨名大VLD2019-113 HWS2019-86
集積回路設計では,面積,電力,性能等の制約下において,遅延故障を起こさずに,正常な動作を保つこ
とが求められる.遅延故... [more]
VLD2019-113 HWS2019-86
pp.113-118
DC 2019-12-20
16:30
和歌山 南紀くろしお商工会 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測
三宅庸資加藤隆明梶原誠司九工大)・麻生正雄二見治司松永恵士シスウェーブ)・三浦幸也首都大東京DC2019-85
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている.回路の劣化による遅延の増加を検出するには,フィールドで... [more] DC2019-85
pp.37-42
DC 2018-12-14
13:00
沖縄 沖縄県立宮古青少年の家 FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定
三宅庸資佐藤康夫梶原誠司九工大DC2018-58
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている.劣化現象として回路遅延の増加が知られているが,劣化によ... [more] DC2018-58
pp.1-6
ICD, CPSY
(共催)
2015-12-17
16:00
京都 京都工芸繊維大学 [ポスター講演]時間的なマスキングの無効化を考慮した高精度なソフトエラー伝播解析手法
西住友里木美雄太松川 豪吉田周平和泉慎太郎川口 博吉本雅彦神戸大ICD2015-81 CPSY2015-94
車載や医療など誤動作が人命に関わる分野で用いられるVLSIプロセッサには高い信頼性が求められる.一方,プロセスの微細化に... [more] ICD2015-81 CPSY2015-94
p.65
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-03
10:50
長崎 長崎県勤労福祉会館 FPGAのオンチップ遅延測定における温度影響補正の検討
喜納 猛三宅庸資佐藤康夫梶原誠司九工大VLD2015-63 DC2015-59
フィールドでVLSIの遅延テストするための手段として,チップ上に搭載したユーザ論理回路のパス遅延を可変なテストタイミング... [more] VLD2015-63 DC2015-59
pp.165-170
MBE, BioX, NC
(共催)
2015-10-25
15:40
大阪 大阪電気通信大学 多チャンネル刺激用VLSIチップを用いたin-vivoラット皮質内微小電流刺激の検討
梅比良裕一林田祐樹二見成俊高谷光基亀田成司八木哲也阪大BioX2015-35 MBE2015-46 NC2015-30
大脳皮質視覚野への皮質内微小電気刺激は,網膜や視神経経路に障害を持つ重度視覚障害者において,視機能の一部を人工的に再建す... [more] BioX2015-35 MBE2015-46 NC2015-30
pp.71-76
RECONF 2014-06-12
10:50
宮城 片平さくらホール LEDR/4相2線ハイブリッドアーキテクチャに基づく高性能非同期FPGA
小松与志也張山昌論亀山充隆東北大RECONF2014-6
本論文では非同期式データ転送プロトコルである4相2線方式とLevel-Encoded Dual-Rail (LEDR) ... [more] RECONF2014-6
pp.27-30
CPSY, DC
(共催)
2014-04-25
14:00
東京 国立情報学研究所 DDLセルライブラリを用いた非同期式回路設計支援環境の構築
今井 雅五十嵐大将工藤三四郎弘前大CPSY2014-2 DC2014-2
VLSI製造技術の進歩に伴う構成要素の微細化・システムの大規模化が進む一方、隣り合った素子でさえも異なる特性を示すランダ... [more] CPSY2014-2 DC2014-2
pp.3-8
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2013-11-27
15:20
鹿児島 鹿児島県文化センター 耐マルチサイクル過渡故障を指向した高位合成におけるコントローラの設計について
石森裕太郎中祖達也岩垣 剛市原英行井上智生広島市大VLD2013-68 DC2013-34
本研究では,マルチサイクル過渡故障に耐性を持つシステムにおけるコントローラの設計について議論する.
コントローラの構成... [more]
VLD2013-68 DC2013-34
pp.45-50
IE, ICD, VLD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2013-10-08
10:35
青森 弘前大学 コラボ弘大 電流モード論理に基づく多値細粒度リコンフィギャラブルVLSIの新概念アーキテクチャ
白 旭亀山充隆東北大VLD2013-57 ICD2013-81 IE2013-57
本稿では、多値Xネット・データ転送方式に基づく細粒度リコンフィギャラブルVLSIを提案している。2つの2値データは2個の... [more] VLD2013-57 ICD2013-81 IE2013-57
pp.59-64
ICD 2009-12-15
10:00
静岡 静岡大学(浜松) [招待講演]心の情報処理に学ぶ新たなVLSIシステムアーキテクチャ
柴田 直東大ICD2009-95
集積回路技術の進歩によりコンピュータは驚異的な演算能力を獲得したが,人間が日常生活で何気なく行っている情報処理に対しては... [more] ICD2009-95
pp.101-109
SANE 2008-06-26
16:30
茨城 JAXA筑波宇宙センター 宇宙用論理LSIで発生する放射線誘起スパイクノイズの研究(仮)
牧野高紘総研大)・柳川善光東大)・小林大輔総研大/JAXA)・福田盛介JAXA)・廣瀬和之池田博一総研大/JAXA)・斎藤宏文東大/JAXA)・小野田 忍平尾敏雄大島 武原子力機構)・高橋大輔石井 茂草野将樹池淵 博黒田能克三菱重工SANE2008-25
放射線によって論理LSI内に誘起されるスパイクノイズがソフトエラー源として顕在化してきている.
論理LSIはチップ内部... [more]
SANE2008-25
pp.67-72
DC, CPSY
(共催)
2008-04-23
16:15
東京 東大・武田ホール 幅の広いエラーパルス検出機能を有する耐ソフトエラーFF
阮 双玉難波一輝伊藤秀男千葉大CPSY2008-9 DC2008-9
VLSI の微細化および低電力化に伴い論理回路におけるソフトエラーが問題となってきている.近年では,メモリ部やラッチ回路... [more] CPSY2008-9 DC2008-9
pp.49-54
DC 2008-02-08
13:00
東京 機械振興会館 二線式論理を用いたFPGAのソフトエラーに対するフォールトセキュア性
三浦健宏難波一輝伊藤秀男千葉大DC2007-74
近年,回路の微細化,高集積化に伴いソフトエラー発生率が増加している.ソフトエラーが記憶素子に発生した場合,新しい値が書き... [more] DC2007-74
pp.45-50
DC 2008-02-08
15:15
東京 機械振興会館 テスト長制約下での欠陥検出向上のための状態可観測なFSMのテスト生成法
井上諒一細川利典日大)・藤原秀雄奈良先端大DC2007-78
我々は,オーバーテストやアンダーテストを抑制するために,状態可観測な状態遷移機械(FSM)の論理故障テストやタイミング故... [more] DC2007-78
pp.69-76
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