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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
OME 2024-01-16
14:50
ONLINE オンライン開催 自己組織化単分子膜を利用した金属酸化物抵抗変化型メモリの抵抗変化挙動の制御
中野正浩松井裕輝Md. Shahiduzzaman當摩哲也辛川 誠金沢大OME2023-80
 [more] OME2023-80
pp.13-17
CPM 2023-07-31
15:10
北海道 北見工業大学
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
抵抗変化型メモリとしてのZrN電極を用いたMIM構造の検討
三浦豊生佐藤 勝武山真弓北見工大CPM2023-14
近年, 急速に進む情報社会において, 不揮発性メモリには, さらなる高性能化が求められているため, 次世代不揮発性メモリ... [more] CPM2023-14
pp.11-12
SDM 2022-11-11
09:30
ONLINE オンライン開催 [招待講演]信号電子の混合効果の抑制によるスーパー時間分解を目指して
江藤剛治阪大)・下ノ村和弘安藤妙子松長誠之廣瀬 裕立命館大)・志村考功渡部平司阪大)・鎌倉良成阪工大)・武藤秀樹リンクリサーチSDM2022-71
シリコン(Si)イメージセンサの理論的限界時間分解能は11.1psである1).それ以下の時間分解能をスーパー時間分解(S... [more] SDM2022-71
pp.32-39
MRIS, CPM
(共催)
ITE-MMS
(連催) [詳細]
2022-10-27
13:30
長野 信州大学+オンライン開催
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
磁気抵抗効果測定によるC11b Cr-Al薄膜の磁気構造の検討
井口颯太藤原壮甫豊木研太郎白土 優中谷亮一阪大MRIS2022-6 CPM2022-37
磁気抵抗(MR)効果素子やTHz帯で動作可能な磁気デバイスの発展には,反強磁性体のライブラリ 拡大が必要不可欠である.通... [more] MRIS2022-6 CPM2022-37
pp.1-5
CPM 2021-10-27
15:10
ONLINE オンライン開催 抵抗変化メモリのためのHfO2膜の特性評価
川合祐貴佐藤 勝武山真弓北見工大CPM2021-31
近年,フラッシュメモリより動作速度が速く,消費電力を低くすることができる抵抗変化メモリが注目されている.しかしながら,低... [more] CPM2021-31
pp.43-45
CPM 2021-03-03
13:45
ONLINE オンライン開催 薄いCuOx膜を用いたZr/ZrO2/Pt構造の電気的特性
川合祐貴山本和輝大塚 祐佐藤 勝武山真弓北見工大CPM2020-69
近年、抵抗変化型メモリは、最も有望な次世代の不揮発性メモリの1つとして注目されている。本研究では、動作電流を低減させるた... [more] CPM2020-69
pp.52-54
ED 2021-02-22
14:30
ONLINE オンライン開催 MEMS力センサによるヒトiPS細胞由来心筋細胞の拍動計測
池上怜汰塚越拓哉野田堅太郎玉本拓巳小柳健一大島 徹富山県立大)・松平謙英東大)・下山 勲富山県立大ED2020-40
ピエゾ抵抗型力センサを用いて,ヒトiPS細胞由来心筋細胞の拍動を計測した.シリコンプロセスにより作製した可動培養基板上に... [more] ED2020-40
pp.9-11
ED 2016-07-23
15:30
東京 首都大学東京 南大沢キャンパス 国際交流会館 大会議室 p-Cu2O/AlOx/n-SiC/n-Si構造の不揮発性pnメモリダイオードと低電圧動作
土屋充沙塚本貴広須田良幸東京農工大ED2016-30
我々は最近,不揮発性メモリ特性と整流特性の双方を有する理論的に最密のクロスポイント型配列に適した2端子抵抗変化型のp-C... [more] ED2016-30
pp.17-20
ICD 2016-04-14
13:00
東京 機械振興会館 [依頼講演]ReRAMの抵抗スイッチ動作におけるフィラメント形成・消滅の透過電子顕微鏡内その場観察
高橋庸夫北大)・工藤昌輝九大)・有田正志北大ICD2016-5
抵抗変化メモリは、不揮発性メモリとして注目され、すでに16Gbit程度のセルアレイが報告されている.しかし、その長期信頼... [more] ICD2016-5
pp.21-26
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-01
14:40
長崎 長崎県勤労福祉会館 隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について
伊勢幸太郎四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大VLD2015-42 DC2015-38
IC 内で発生する半断線故障は抵抗成分を持ち,故障の影響は微小遅延として顕在化する.また,トランジスタのばらつきの影響に... [more] VLD2015-42 DC2015-38
pp.31-36
SDM, EID
(共催)
2014-12-12
17:45
京都 京都大学 抵抗変化メモリ(ReRAM)における導電性パス生成機構の検討 ~ 第一原理計算手法を用いたNiOの様々な面方位の表面状態解析 ~
森山拓洋鳥取大)・山崎隆浩大野隆央物質・材料研究機構)・岸田 悟木下健太郎鳥取大EID2014-39 SDM2014-134
抵抗変化メモリ(ReRAM)の実用化において, 遷移金属酸化物(TMO)内に生成される導電性パスの物性解明が必須である.... [more] EID2014-39 SDM2014-134
pp.135-138
SDM 2014-06-19
15:40
愛知 名古屋大学 ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー [依頼講演]抵抗変化メモリにおけるナノ導通フィラメントの抵抗の温度依存性
大塚慎太郎濱田佳典清水智弘新宮原正三関西大SDM2014-57
抵抗変化メモリは次世代不揮発性メモリとして期待されているが,抵抗変化のメカニズムが詳しく解明されていないことが問題である... [more] SDM2014-57
pp.75-78
ED, SDM
(共催)
2014-02-28
11:40
北海道 北海道大学百年記念会館 Cu/MoOx抵抗変化メモリのスイッチ動作における導電フィラメントの直接観察
大野裕輝廣井孝弘工藤昌輝浜田弘一有田正志高橋庸夫北大ED2013-148 SDM2013-163
固体電解質を用いたタイプの抵抗変化メモリ(ReRAM)では,固体電解質中の金属イオンの移動による伝導パス形成/破壊が動作... [more] ED2013-148 SDM2013-163
pp.89-94
DC 2013-02-13
13:30
東京 機械振興会館 半断線故障検出のための信号遅延の特性評価
大栗裕人四柳浩之橋爪正樹徳島大)・堤 利幸山崎浩二明大)・樋上善信高橋 寛愛媛大DC2012-84
半断線故障が発生すると,故障配線の信号遅延により回路性能が低下する場合がある. しかし,故障配線に信号遷移を与える検査入... [more] DC2012-84
pp.25-30
NC, MBE
(併催)
2011-03-07
15:00
東京 玉川大学 複数の帯域通過型空間フィルタを有する視覚センサ
安川真輔奥野弘嗣八木哲也阪大NC2010-139
複数の帯域通過型空間フィルタを有する視覚センサを構築した.本センサはAPS (active pixel sensor),... [more] NC2010-139
pp.71-76
SDM, ED
(共催)
2009-06-24
15:00
海外 海雲台グランドホテル(釜山、韓国) Transient characteristic of fabricated Magnetic Tunnel Junction (MTJ) programmed with CMOS circuit
Masashi KamiyanagiFumitaka IgaShoji IkedaTohoku Univ.)・Katsuya MiuraTohoku Univ./Hitachi)・Jun HayakawaHitachi)・Haruhiro HasegawaTakahiro HanyuHideo OhnoTetsuo EndohTohoku Univ.ED2009-52 SDM2009-47
In this paper, it is shown that our fabricated MTJ of 60x180... [more] ED2009-52 SDM2009-47
pp.9-12
SDM, ED
(共催)
2009-06-24
15:15
海外 海雲台グランドホテル(釜山、韓国) Study of the DC Performance of Fabricated Magnetic Tunnel Junction Integrated on Back-end Metal Line of CMOS Circuits
Fumitaka IgaMasashi KamiyanagiShoji IkedaTohoku Univ.)・Katsuya MiuraTohoku Univ./Hitachi)・Jun HayakawaHitachi)・Haruhiro HasegawaTakahiro HanyuHideo OhnoTetsuo EndohTohoku Univ.ED2009-53 SDM2009-48
In this paper, we have succeeded in the fabrication of high ... [more] ED2009-53 SDM2009-48
pp.13-16
SDM 2007-03-15
13:30
東京 機械振興会館 抵抗変化メモリの熱反応モデルを用いたリセット動作の検討
佐藤嘉洋木下健太郎能代英之青木正樹杉山芳弘富士通研
あらまし 我々は二元系金属酸化物 (BMO) 素子からなる抵抗変化メモリ(ReRAM)のセルにパルス電圧を印加する評価を... [more] SDM2006-255
pp.7-10
ICD 2005-04-15
10:30
福岡 福岡システムLSI 総合開発センター 低電圧・高速動作を実現した1.2V単一動作の130nm混載向け1Mbit MRAMコア
辻 高晴ルネサステクノロジ)・谷崎弘晃ルネサスデバイスデザイン)・石川正敏大谷 順山口雄一郎上野修一大石 司日高秀人ルネサステクノロジ
MRAM (Magnetic Random Access Memory) は無制限の書き換え/読み出し回数による高信頼性... [more] ICD2005-13
pp.1-6
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