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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ICD | 2011-12-16 09:55 |
大阪 | 大阪大学会館 | MCUに強靭な耐ソフトエラーフリップフロップ ○山本亮輔・濱中 力（京都工繊大）・古田 潤（京大）・小林和淑（京都工繊大/JST）・小野寺秀俊（京大/JST）  ICD2011-129 |
ソフトエラーによるLSIの信頼性の低下に対し，フリップフロップの3重化等，多様な耐ソフトエラーフリップフロップが提案され... [more] | ICD2011-129 pp.131-136 |
| ICD | 2011-12-16 14:50 |
大阪 | 大阪大学会館 | マルチビットアップセット耐性及びシングルビットアップセット耐性を備えた8T SRAMセルレイアウト ○梅木洋平・吉本秀輔・天下卓郎・川口 博（神戸大）・吉本雅彦（神戸大/JST） ICD2011-134 |
本論文ではマルチビット・アップセット(MBU)を軽減する分割ワード線構造における新規8TSRAMセルレイアウトを提案する... [more] | ICD2011-134 pp.161-166 |
| SANE | 2008-06-26 16:30 |
茨城 | JAXA筑波宇宙センター | 宇宙用論理LSIで発生する放射線誘起スパイクノイズの研究(仮) ○牧野高紘（総研大）・柳川善光（東大）・小林大輔（総研大/JAXA）・福田盛介（JAXA）・廣瀬和之・池田博一（総研大/JAXA）・斎藤宏文（東大/JAXA）・小野田 忍・平尾敏雄・大島 武（原子力機構）・高橋大輔・石井 茂・草野将樹・池淵 博・黒田能克（三菱重工） SANE2008-25 |
放射線によって論理LSI内に誘起されるスパイクノイズがソフトエラー源として顕在化してきている． 論理LSIはチップ内部... [more] |
SANE2008-25 pp.67-72 |
| CPSY, VLD, IPSJ-SLDM (共催) |
2005-01-25 11:30 |
神奈川 | 慶應義塾大学 日吉キャンパス | 動的再構成可能デバイスの耐故障化に関する検討 ○越智直紀・中原健太郎・森江太士・神山真一・泉 知論・越智裕之・中村行宏（京大） |
再構成可能デバイスを用いることで，遠隔地からのシステムの更新や，故障発生に際し故障箇所を避けて回路を再構成することによる... [more] | VLD2004-101 CPSY2004-67 pp.23-28 |
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