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すべての研究会開催スケジュール (検索条件: 最近10年)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, RECONF (共催) |
2025-01-16 09:25 |
神奈川 | キオクシア 横浜テクノロジーキャンパス Flagship棟 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
能動学習とハイパーパラメータの適応的更新を用いたイベント単位で正確なビット反転識別手法 ○安田隆一・高見一総・五味唯美（京大）・竹内浩造（JAXA）・橋本昌宜（京大）  VLD2024-77 RECONF2024-107 |
ソフトエラーレート(SER)の正確な見積もりには，放射線入射イベント毎にビット反転の有無を高精度に判定する必要があり，T... [more] | VLD2024-77 RECONF2024-107 pp.7-12 |
| SDM | 2019-11-08 13:30 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］トレンチゲート型Si-IGBTの3次元精密TCADシミュレーション ○渡辺正裕・執行直之・星井拓也・古川和由・角嶋邦之（東工大）・佐藤克己（三菱電機）・末代知子（東芝デバイス&ストレージ）・更屋拓哉・高倉俊彦・伊藤一夫・福井宗利・鈴木慎一・竹内 潔（東大）・宗田伊里也・若林 整（東工大）・中島 昭（産総研）・西澤伸一（九大）・筒井一生（東工大）・平本俊郎（東大）・大橋弘通・岩井 洋（東工大） SDM2019-77 |
トレンチゲート型シリコンIGBT(insulated gate bipolar transistor)の３次元TCADシ... [more] | SDM2019-77 pp.45-48 |
| SDM | 2019-01-29 09:30 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］強誘電体負性容量のマルチドメイン動力学とトランジスタ特性特性への影響 ○太田裕之・池上 努・福田浩一・服部淳一・浅井栄大・遠藤和彦・右田真司（産総研）・鳥海 明（東大） SDM2018-81 |
本研究では，マルチドメイン分極を考慮した強誘電体負性容量トランジスタの動的特性を内製TCADモジュールにより明らかにした... [more] | SDM2018-81 pp.1-4 |
| VLD, HWS (併催) |
2018-02-28 17:20 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | FDSOIに適したスタック構造におけるソフトエラー対策手法の提案・評価と微細化による影響の評価 ○丸岡晴喜・山田晃大・榎原光則・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2017-103 |
トランジスタサイズの微細化に伴い、ソフトエラーにより集積回路の信頼性が低下している。本稿では65 nm FDSOI プロ... [more] | VLD2017-103 pp.85-90 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-28 14:15 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | TCADシミュレーションを用いたFDSOIプロセスの耐ソフトエラー回路構造の検討 ○山田晃大・丸岡晴喜・梅原成宏・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2016-49 DC2016-43 |
集積回路はムーアの法則に従って微細化してきたが，それに伴いソフトエラーに よる信頼性の低下が問題となっている．既にソ... [more] |
VLD2016-49 DC2016-43 pp.31-36 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-28 14:40 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | PHITS-TCADシミュレーションによるFinFETとFDSOIのソフトエラー耐性の評価 ○梅原成宏・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2016-50 DC2016-44 |
集積回路の微細化に伴い，ソフトエラーによる信頼性の低下が問題となっている．近年，SOIやFinFETのような従来と異なる... [more] | VLD2016-50 DC2016-44 pp.37-41 |
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