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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
EMD, R
(共催)
2021-02-12
15:00
ONLINE オンライン開催 [招待講演]電子デバイスに対する信頼性物理の諸課題 ~ 物理的に解明が必要な故障メカニズム ~
門田 靖リコーR2020-37 EMD2020-28
半導体デバイスをはじめ電子デバイスの多くは,市場の様々な分野・用途で使われている.現在市場で発生している電子デバイスの故... [more] R2020-37 EMD2020-28
pp.19-24
ICD, SDM
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2016-08-03
13:20
大阪 中央電気倶楽部 [招待講演]機能安全規格ISO26262 ASIL Bに対応する16nm FinFETヘテロジニアス9コアSoC
高橋睦史芝原真一福岡一樹松嶋 潤北地祐子ルネサス システムデザイン)・島崎靖久原 博隆入田隆宏ルネサス エレクトロニクスSDM2016-64 ICD2016-32
本稿では,機能安全規格ISO26262 ASIL Bに対応する次世代自動車情報機器向けヘテロジニアス9コアSoCについて... [more] SDM2016-64 ICD2016-32
pp.105-110
SDM 2010-02-05
16:45
東京 機械振興会館 Cu/Low-k配線パターンのラインエッジラフネス評価
山口敦子龍崎大介武田健一日立)・川田洋揮日立ハイテクノロジーズSDM2009-192
Cu/low-k配線パターンのラインエッジラフネス(LER)評価方法を確立するため,レジスト,low-k,Cu/low-... [more] SDM2009-192
pp.59-63
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