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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2024-02-28
13:15
東京 機械振興会館 近似乗算器の過剰テスト緩和のためのテスト生成に関する考察
王 麒霖市原英行井上智生広島市大DC2023-97
本論文では近似演算回路に対する過剰テスト緩和について議論する.
誤り訂正機構を有し,アプリケーションの要求に応じて誤差... [more]
DC2023-97
pp.17-22
DC 2013-02-13
15:50
東京 機械振興会館 エラートレラントアプリケーションのための論理回路簡単化における必須割当てを利用した許容故障判定法
松木伸伍亀井惇平岩垣 剛市原英行井上智生広島市大DC2012-88
エラートレラントアプリケーションは,特定のLSIシステムの誤差(誤り)を許容することが可能なアプリケーションである.
... [more]
DC2012-88
pp.49-54
DC 2012-12-14
16:00
福井 アオッサ(福井) 過剰テスト緩和のためのテスト生成モデルと故障の許容性に基づくテストへの応用
櫻田正明市原英行岩垣 剛井上智生広島市大DC2012-77
正常に動作するチップを不良と判断してしまう過剰テストは,実効歩留まりの低下を引き起こす.本論文では,過剰テスト緩和を目的... [more] DC2012-77
pp.21-26
DC 2009-06-19
11:10
東京 機械振興会館 閾値テストのための5値論理に基づくテスト生成アルゴリズムに関する考察
出水伸和吉川祐樹市原英行井上智生広島市大DC2009-12
回路に故障が存在しても出力に重大な影響を与えない故障を許容故障という.
許容故障を考慮した16値論理に基づく閾値テスト... [more]
DC2009-12
pp.13-18
DC 2008-12-12
13:25
山口 サンライフ萩 故障の許容性に基づく閾値テスト生成のための回路モデル
周藤健太吉川祐樹市原英行井上智生広島市大DC2008-60
近年のLSIの微細化,高性能化に伴いLSIの用途は幅広くなっており求められる信頼性も様々である.オーディオ,画像処理シス... [more] DC2008-60
pp.5-10
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