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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2021-11-12
14:30
ONLINE オンライン開催 [招待講演]高感度ひずみセンサー用のダンベル型グラフェンナノリボンのショットキーエネルギー障壁のひずみ誘起変化に関する理論的研究
張 秦強鈴木 研三浦英生東北大SDM2021-64
提案されたダンベル型のグラフェンナノリボン(DS-GNR)構造における電子特性のひずみ誘起変化 は,第一原理計算を使用し... [more] SDM2021-64
pp.60-65
SDM 2019-10-24
10:50
宮城 東北大学未来情報産業研究館5F Low temperature formation of PdErSi/Si(100) for Schottky barrier source and drain MOSFET applications
Rengie Mark D. MailigYuichiro ArugaMin Gee KimShun-ichiro OhmiTokyo TechSDM2019-61
In this report, the effects of the TiN encapsulating layer o... [more] SDM2019-61
pp.39-43
CPM 2019-02-28
16:20
東京 電通大 窒化ジルコニウム薄膜を用いた金属-絶縁-金属構造における電気伝導特性
北田秀樹佐藤 勝武山真弓北見工大CPM2018-111
不揮発性メモリへ用いられる抵抗変化型メモリは, 2端子回路において多値機能と迷走電流を防止する整流機能が必要である.窒化... [more] CPM2018-111
pp.45-48
SDM 2018-10-18
10:50
宮城 東北大学未来情報産業研究館5F Schottky barrier height reduction of Pd2Si/Si(100) diodes by dopant segregation process
Rengie Mark D. MailigMin Gee KimShun-ichiro OhmiTokyo Tech.SDM2018-59
In this paper, the reduction of the Schottky barrier height ... [more] SDM2018-59
pp.35-40
MW, ED
(共催)
2017-01-26
16:15
東京 機械振興会館地下2階1号室 [依頼講演]金属/GaNショットキー接触の評価 ~ 黎明期からの振り返り ~
塩島謙次福井大ED2016-101 MW2016-177
本講演では我々の研究機関で得られた金属/GaNショットキー接触に関する知見を黎明期から振り返り、GaN電子デバイス開発の... [more] ED2016-101 MW2016-177
pp.23-28
WIT 2016-03-05
11:00
茨城 筑波技術大学春日キャンパス(つくば) 車いすユーザの外出時におけるバリア解消を目的とした飲食店検索システムの開発と評価
加藤亜由相馬祥子渡辺隆行東京女子大WIT2015-101
車いすユーザが必要とする情報を検索しやすいシステムを開発し,その有効性を検証した.まず,車いすユーザにアンケート調査を行... [more] WIT2015-101
pp.71-76
SDM 2015-06-19
14:35
愛知 名古屋大学 ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー 金属/Ge界面への超高Sn組成SnxGe1-x層導入による界面電気伝導特性の制御
鈴木陽洋柴山茂久坂下満男竹内和歌奈中塚 理財満鎭明名大SDM2015-49
GeチャネルCMOSの実現に向けて、金属/Geコンタクト抵抗の低減は必要不可欠である。しかしながら、金属/n-Ge界面の... [more] SDM2015-49
pp.57-61
ED, CPM, SDM
(共催)
2015-05-28
16:05
愛知 豊橋技科大VBL棟 高移動度β-Ga2O3(-201)単結晶を用いたショットキーバリアダイオードの作製
古賀優太原田和也花田賢志大石敏之嘉数 誠佐賀大ED2015-22 CPM2015-7 SDM2015-24
高電子移動度を有するEFG法で成長したβ―Ga2O3(2 ̅01)面方位の単結晶を用いた高性能ショットキーバリ... [more] ED2015-22 CPM2015-7 SDM2015-24
pp.31-34
SDM 2015-03-02
11:35
東京 機械振興会館 [招待講演]エピタキシャル金属/ゲルマニウム接合の形成による界面電気伝導特性の制御
中塚 理鄧 云生鈴木陽洋坂下満男田岡紀之財満鎭明名大SDM2014-165
省電力・高速Geデバイスの実現には、金属/Ge接合のコンタクト抵抗低減に向けた界面電子物性の制御が必要不可欠である。本研... [more] SDM2014-165
pp.17-22
ED 2012-12-18
12:05
宮城 東北大学電通研 片平北キャンパス ナノ・スピン総合研究棟4階 カンファレンスルーム サブミリ波帯ゼロバイアス動作InP系SBDモジュール
伊藤 弘北里大)・村本好史NTT)・山本 洋北里大)・石橋忠夫NELED2012-107
サブミリ波帯においてゼロバイアスで動作する、InP系ショットキーバリアダイオード(SBD)モジュールを開発した。SBDに... [more] ED2012-107
pp.77-82
ED, LQE, CPM
(共催)
2012-11-29
13:55
大阪 大阪市立大学 単結晶β-Ga2O3基板を用いたPt/β-Ga2O3ショットキーバリアダイオード
佐々木公平タムラ製作所/NICT)・東脇正高NICT/JST)・倉又朗人タムラ製作所)・増井建和光波)・山腰茂伸タムラ製作所ED2012-71 CPM2012-128 LQE2012-99
単結晶$Ga_2O_3$(010)基板を用いてショットキーバリアダイオードを作製した.フローティングゾーンで作製した単結... [more] ED2012-71 CPM2012-128 LQE2012-99
pp.25-28
SDM 2012-06-21
16:35
愛知 名古屋大学(ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー) 微細3次元デバイスに向けたシリサイドショットキーS/Dの界面制御方法の提案
田村雄太吉原 亮角嶋邦之パールハット アヘメト片岡好則西山 彰杉井信之筒井一生名取研二服部健雄岩井 洋東工大SDM2012-59
本研究ではシリサイド形成時の界面制御方法としてNi/Si積層構造を提案する。Ni/Si積層構造によって形成した積層$Ni... [more] SDM2012-59
pp.87-92
SDM 2012-06-21
17:15
愛知 名古屋大学(ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー) TiN/Geコンタクトに於けるフェルミレベルピンニング変調とMOSデバイスへの応用
山本圭介井餘田昌俊王 冬中島 寛九大SDM2012-61
金属/Ge界面ではフェルミレベルがGeの価電子帯近傍にピンニング(FLP)され、低障壁・低抵抗な金属/Geコンタクトの形... [more] SDM2012-61
pp.97-102
LQE, ED, CPM
(共催)
2011-11-17
13:45
京都 京都大学桂キャンパス 桂ホール AlInN/AlN/GaNヘテロ接合における高温での表面障壁高さの低下
ハサン タンビル徳田博邦葛原正明福井大ED2011-79 CPM2011-128 LQE2011-102
 [more] ED2011-79 CPM2011-128 LQE2011-102
pp.29-33
SDM 2010-10-21
15:30
宮城 東北大学 Yb混晶化PtSiの仕事関数変調機構
石川純平高 峻大見俊一郎東工大SDM2010-154
極微細CMOSの拡散層における超低コンタクト抵抗の実現を目的として、Yb混晶化によるPtSiの仕事関数変調に関する検討を... [more] SDM2010-154
pp.13-16
ED 2010-06-17
15:50
石川 北陸先端大 AlGaN/GaN HFETの表面バリア高さに対するデバイスプロセス中表面酸化の影響
東脇正高NICT/JST/カリフォルニア大)・Srabanti ChowdhuryBrian L. SwensonUmesh K. Mishraカリフォルニア大ED2010-39
AlGaN/GaNヘテロ構造のAlGaN表面バリアハイトに対するアニールプロセス中に起こる表面酸化の影響を、ホール測定お... [more] ED2010-39
pp.31-35
SDM 2009-10-29
14:00
宮城 東北大学 n+-、p+-Si領域に最適なシリサイドを用いた高電流駆動能力トランジスタ
中尾幸久黒田理人田中宏明寺本章伸須川成利大見忠弘東北大SDM2009-117
MOSFETにおけるソース・ドレイン電極の直列抵抗を低減するために、ソース・ドレイン領域に、低コンタクト抵抗を有するシリ... [more] SDM2009-117
pp.1-6
SDM 2009-10-29
14:30
宮城 東北大学 2段階シリサイド化によるHf混晶化PtSiの耐熱性向上に関する検討
高 峻石川純平大見俊一郎東工大SDM2009-118
400℃/60 minで形成したPtxHfySiの耐熱性を改善するため、2段階シリサイド化プロセスに関する検討を行った。... [more] SDM2009-118
pp.7-10
OME 2009-07-23
15:10
長野 (財)加藤科学振興会軽井沢研修所 内部光電子放出法を用いたAlq3と陰極界面の電子注入障壁高さの評価
高石真也伊東栄次信州大OME2009-32
本研究ではITO/TiO2/IL/Alq3/陰極構造の“electron-only device”を作成して、内部光電子... [more] OME2009-32
pp.19-24
SDM 2008-10-10
13:30
宮城 東北大学 Hf混晶化PtSiの仕事関数変調機構の検討
高 峻石川純平大見俊一郎東工大SDM2008-162
PtSiのn-Siに対する障壁高さを低減することを目的として、Hfとの混晶化によるPtSiの仕事関数変調に関する検討を行... [more] SDM2008-162
pp.41-44
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