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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD 2015-03-04
13:00
沖縄 沖縄県青年会館 エラー検出回復方式を導入した乗算器の性能検証
大月郷史高橋篤司東工大VLD2014-181
現在のデジタル集積回路の主流方式では,フリップフロップ間の信号伝搬遅延の最大値が回路性能を決める.そのため最大遅延の削減... [more] VLD2014-181
pp.159-164
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2013-11-27
14:55
鹿児島 鹿児島県文化センター チェックポイント観測によるタイミングエラー予測手法
五十嵐博昭史 又華柳澤政生戸川 望早大VLD2013-67 DC2013-33
プロセス技術の微細化によりLSIのタイミング設計が難しくなっており,タイミングエラー対策手法の重要性が高まっている.既存... [more] VLD2013-67 DC2013-33
pp.39-44
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2013-11-27
15:20
鹿児島 鹿児島県文化センター 耐マルチサイクル過渡故障を指向した高位合成におけるコントローラの設計について
石森裕太郎中祖達也岩垣 剛市原英行井上智生広島市大VLD2013-68 DC2013-34
本研究では,マルチサイクル過渡故障に耐性を持つシステムにおけるコントローラの設計について議論する.
コントローラの構成... [more]
VLD2013-68 DC2013-34
pp.45-50
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-27
13:25
福岡 九州大学百年講堂 耐過渡故障データパス合成における演算器バインディングのためのヒューリスティックアルゴリズム
中祖達也大窪涼子岩垣 剛市原英行井上智生広島市大VLD2012-84 DC2012-50
LSIの高集積化,高速化,利用範囲の複雑化などの背景を受けて,放射線衝突が原因でLSI内部に発生する一時故障が問題となっ... [more] VLD2012-84 DC2012-50
pp.147-152
VLD 2012-03-07
14:35
大分 ビーコンプラザ FPGA上に実現した可変レイテンシ回路の性能評価
右近祐太安藤健太高橋篤司阪大VLD2011-141
現在ICTの基盤となっている集積回路は常に高性能化が求められている.
現在の集積回路の主流方式では, クロックをフリ... [more]
VLD2011-141
pp.127-132
MSS, CAS, VLD, SIP
(共催)
2011-07-01
14:30
沖縄 沖縄県青年会館 エラー検出回復方式における様々な加算器の性能評価
安藤健太高橋篤司阪大CAS2011-26 VLD2011-33 SIP2011-55 MSS2011-26
エラー検出回復方式は,フリップフロップ間の遅延時間が入力信号パターンなどによって変動することを利用して,回路の高速化を図... [more] CAS2011-26 VLD2011-33 SIP2011-55 MSS2011-26
pp.147-152
VLD 2011-03-04
13:10
沖縄 沖縄県男女共同参画センター ゲートレベルシミュレーションによるエラー検出・回復方式回路の評価
井上雅文東工大)・右近祐太高橋篤司阪大VLD2010-141
通常の同期式回路設計では,回路内で遅延エラーの発生を許容しないため,フリップフロップ間の信号伝搬遅延の最大値(最大遅延)... [more] VLD2010-141
pp.147-152
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2010-11-29
14:50
福岡 九州大学医学部百年講堂 マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法
邊見勇登吉川祐樹市原英行井上智生広島市大VLD2010-60 DC2010-27
近年,VLSI の高機能化,高集積化に伴い,放射線衝突によるソフトエラーの発生が懸念されている.特に近年の微細化と高速動... [more] VLD2010-60 DC2010-27
pp.25-30
CPSY, DC
(併催)
2009-08-04
- 2009-08-05
宮城 フォレスト仙台 Network-on-Chipにおけるエラー検出・訂正方式に関する研究
小島 悠慶大)・松谷宏紀東大)・鯉渕道紘NII)・天野英晴慶大CPSY2009-24
本研究ではエラー耐性技術を用いることでエラー率を抑えつつ電圧を落とす Network-on-Chip (NoC)の低消費... [more] CPSY2009-24
pp.85-90
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