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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2024-02-28
13:15
東京 機械振興会館 近似乗算器の過剰テスト緩和のためのテスト生成に関する考察
王 麒霖市原英行井上智生広島市大DC2023-97
本論文では近似演算回路に対する過剰テスト緩和について議論する.
誤り訂正機構を有し,アプリケーションの要求に応じて誤差... [more]
DC2023-97
pp.17-22
DC 2020-02-26
14:35
東京 機械振興会館 メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究
児玉優也宮瀬紘平高藤大輝温 暁青梶原誠司九工大DC2019-93
LSIのテスト時は,通常動作時と比べて消費電力が大きくなる.過度なIRドロップは,過度な遅延値を引き起こし,特に実速度テ... [more] DC2019-93
pp.43-48
DC 2019-02-27
10:15
東京 機械振興会館 LSIのホットスポット分布の解析に関する研究
河野雄大宮瀬紘平九工大)・呂 學坤国立台湾科技大)・温 暁青梶原誠司九工大DC2018-74
LSIの通常動作時におけるIR-drop増加に起因する性能低下などの問題は,電源供給ネットワークを強化するなどの手段で設... [more] DC2018-74
pp.19-24
DC 2018-02-20
11:00
東京 機械振興会館 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究
河野雄大宮瀬紘平梶原誠司温 暁青九工大DC2017-80
LSIのテスト時は,通常動作より多くの信号値遷移を伴うため消費電力が増大する.特に実速度スキャンテストにおける過度な消費... [more] DC2017-80
pp.19-24
DC 2012-12-14
16:00
福井 アオッサ(福井) 過剰テスト緩和のためのテスト生成モデルと故障の許容性に基づくテストへの応用
櫻田正明市原英行岩垣 剛井上智生広島市大DC2012-77
正常に動作するチップを不良と判断してしまう過剰テストは,実効歩留まりの低下を引き起こす.本論文では,過剰テスト緩和を目的... [more] DC2012-77
pp.21-26
VLD, ICD, DC, IPSJ-SLDM
(共催)
2005-12-02
09:55
福岡 北九州国際会議場 A Broadside Test Generation Method for Transition Faults in Partial Scan Circuits
Tsuyoshi IwagakiJAIST)・Satoshi OhtakeHideo FujiwaraNAIST
This paper presents a broadside test generation method for
... [more]
VLD2005-77 ICD2005-172 DC2005-54
pp.7-12
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