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すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2024-12-06 14:00 |
大分 | ふれあい広場・サザンクロス（別府） | k時間展開モデルを用いたランダムパターンレジスタント故障のシード生成法 ○曽根隆暢・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）  DC2024-98 |
(ご登録済みです．開催日以降に掲載されます) [more] | DC2024-98 pp.1-6 |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2024-11-12 15:35 |
大分 | コンパルホール(大分) （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
近似乗算器用BIST内の疑似乱数回路の面積削減について ○赤松大地・四柳浩之（徳島大）・橋爪正樹（放送大） VLD2024-38 ICD2024-56 DC2024-60 RECONF2024-68 |
近年，演算の誤りを一定の範囲で許容できる用途において，低消費電力化や低面積化のために近似演算が注目されている．近似演算の... [more] | VLD2024-38 ICD2024-56 DC2024-60 RECONF2024-68 pp.67-72 |
| CPSY, DC, RECONF (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2024-08-08 09:50 |
徳島 | あわぎんホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
完全故障検出効率と完全診断分解能を両立するテストパターン置換法 ○青野竜弥・細川利典（日大）・吉村正義（京産大）・山崎浩二（明大） CPSY2024-17 DC2024-17 RECONF2024-17 |
故障診断に用いるテスト集合は，高故障検出効率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である．これを実現するために，診... [more] | CPSY2024-17 DC2024-17 RECONF2024-17 pp.5-10 |
| DC | 2024-02-28 13:15 |
東京 | 機械振興会館 | 近似乗算器の過剰テスト緩和のためのテスト生成に関する考察 ○王 麒霖・市原英行・井上智生（広島市大） DC2023-97 |
本論文では近似演算回路に対する過剰テスト緩和について議論する． 誤り訂正機構を有し，アプリケーションの要求に応じて誤差... [more] |
DC2023-97 pp.17-22 |
| DC | 2023-12-08 13:50 |
長崎 | アルカスSASEBO （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
組込み自己テストにおける両立可能故障集合を用いた複数ランダムパターンレジスタント故障のシード生成法 ○曽根隆暢・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） DC2023-88 |
近年，超大規模集積回路の大規模化により，多量化したテストパターンをテスタに保存することは非現実的になっている．組込み自己... [more] | DC2023-88 pp.7-12 |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2023-11-16 16:20 |
熊本 | くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
切り捨てビットを考慮する近似乗算器用BIST回路の面積削減について ○赤松大地・東海翔午・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2023-60 ICD2023-68 DC2023-67 RECONF2023-63 |
近年，演算誤差を許容できるアプリケーションにおいて消費電力や回路面積を抑えるために近似演算が注目されている．乗算器に対す... [more] | VLD2023-60 ICD2023-68 DC2023-67 RECONF2023-63 pp.156-161 |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2022-11-28 15:00 |
熊本 | 金沢市文化ホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
近似演算を用いる乗算器に対するテストパターン削減について ○東海翔午・赤松大地・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2022-23 ICD2022-40 DC2022-39 RECONF2022-46 |
近年,演算誤差を許容できる用途において,演算回路の近似手法が適用されている.乗算器の近似手法としては,乗数と被乗数のビッ... [more] | VLD2022-23 ICD2022-40 DC2022-39 RECONF2022-46 pp.25-30 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2022-07-27 11:00 |
山口 | 海峡メッセ下関 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
ゲート網羅故障のテスト生成高速化のためのブロック分割手法 ○溝田桃菜・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） CPSY2022-3 DC2022-3 |
セル内の欠陥を網羅するゲート網羅故障モデルはゲート数と故障数が比例の関係にあるため，ゲート数が増大すると故障数やテストパ... [more] | CPSY2022-3 DC2022-3 pp.13-18 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2022-03-10 10:50 |
ONLINE | オンライン開催 | 故障活性化率に基づく診断分解能向上指向テスト生成法 ○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） CPSY2021-57 DC2021-91 |
高い欠陥検出率を達成するテスト生成法の１つとして，n回検出テスト生成法が提案されている．さらに，テスト品質尺度として故障... [more] | CPSY2021-57 DC2021-91 pp.73-78 |
| DC | 2022-03-01 14:45 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
SATを用いた遅延故障BIST向けLFSRシード生成法 ○岩本岬汰郎・大竹哲史（大分大） DC2021-74 |
LFSRを用いたLSIのBISTにおいて，ランダムパターン耐性故障を検出するシードを求めるニーズがある．これまでに，AT... [more] | DC2021-74 pp.57-62 |
| DC | 2021-12-10 13:00 |
香川 | 国民宿舎小豆島（ふるさと荘交流センター） （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
低消費電力指向多重目標故障テスト生成法 ○三浦 怜・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） DC2021-55 |
近年，超大規模集積回路の実速度テスト時におけるキャプチャ消費電力の増大に伴い，低消費電力指向テスト生成手法が提案されてい... [more] | DC2021-55 pp.1-6 |
| ICM | 2021-03-18 09:00 |
ONLINE | オンライン開催 | APIアダプタテストコード自動生成方式の提案 ○金丸 翔・佐々木幸次・高橋謙輔・豊嶋剛司（NTT） ICM2020-59 |
B2B2X (Business to Business to X)ビジネスモデルの普及に伴い，複数の卸サービスを組み合わ... [more] | ICM2020-59 pp.1-6 |
| DC | 2021-02-05 14:00 |
ONLINE | オンライン開催 | RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法 ○浅見竜輝・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） DC2020-74 |
近年，大規模集積回路のテストコスト増大伴い，テストパターン数削減のためのテスト並列化手法が提案されている．従来手法ではコ... [more] | DC2020-74 pp.30-35 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2020-07-31 15:45 |
ONLINE | オンライン開催 | テストパターン数削減のためのゲート網羅故障の多重目標故障テスト生成法 ○浅見竜輝・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） CPSY2020-12 DC2020-12 |
近年，集積回路の高集積化・複雑化に伴い，セル内の欠陥が増加し，セル内の故障モデルのテスト生成法やゲート網羅故障モデルのテ... [more] | CPSY2020-12 DC2020-12 pp.75-80 |
| HWS, VLD (共催) [詳細] |
2020-03-06 14:30 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 （開催中止，技報発行あり） |
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 ○山崎紘史・石山悠太・松田竜馬・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2019-131 HWS2019-104 |
従来，VLSIのテストでは，縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた．しかしながら，半導体微細化技術の進展に伴... [more] | VLD2019-131 HWS2019-104 pp.215-220 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 16:35 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | 独立経路ペアの遅延差を用いたハードウェアトロイ検出テスト生成 ○力野 英・平本悠翔郎・大竹哲史（大分大） VLD2019-46 DC2019-70 |
LSIの信頼性の向上のため，ハードウェアトロイの検出が重要である． 本稿ではハードウェアトロイが挿入された信号線におい... [more] |
VLD2019-46 DC2019-70 pp.151-155 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2019-03-18 09:00 |
鹿児島 | 西之表市民会館（種子島） | 最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 ○山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） CPSY2018-117 DC2018-99 |
従来，VLSIのテストでは，縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた．しかしながら，半導体微細化技術の進展に伴... [more] | CPSY2018-117 DC2018-99 pp.315-320 |
| DC | 2019-02-27 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | 製造検査時における組込み自己テスト回路を利用した効率的なPUF回路のチャレンジレスポンス対の生成と評価 ○三野智貴・新谷道広・井上美智子（奈良先端大） DC2018-75 |
近年，半導体部品市場における偽造IC チップの流通が問題になっている．その対策として，物理複製困難（Physically... [more] | DC2018-75 pp.25-30 |
| IPSJ-SLDM, IPSJ-ARC (共催) RECONF, VLD, CPSY (共催) (連催) [詳細] |
2019-01-30 11:20 |
神奈川 | 慶応義塾大学 日吉キャンパス 来往舎 | 多重縮退故障用インクリメンタルテストパターン自動生手法 ○王 培坤・ガラバギ アミル マサウド・藤田昌宏（東大） VLD2018-74 CPSY2018-84 RECONF2018-48 |
[more] | VLD2018-74 CPSY2018-84 RECONF2018-48 pp.13-18 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-07 09:50 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア | SATソルバを用いた低消費電力向けテストパタン圧縮手法について ○松永裕介（九大） VLD2017-43 DC2017-49 |
本稿ではSATソルバを用いた低消費電力向けテストパタン圧縮手法の提案を行 う． 基本となるアイデアは，元の制... [more] |
VLD2017-43 DC2017-49 pp.95-99 |
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