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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2020-02-26
12:00
東京 機械振興会館 n入力マルチプレクサのテスト不能故障数削減のためのコントローラ拡大法
竹内勇希細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大DC2019-90
近年,VLSIの微細化,高速化にともない,遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっている.しか... [more] DC2019-90
pp.25-30
DC 2019-02-27
14:30
東京 機械振興会館 コントローラのテスト活性化用状態圧縮法
池ヶ谷祐輝石山悠太細川利典山崎紘史日大DC2018-80
VLSIのテストにおける課題の一つとして,テスト容易化設計回路の面積削減と故障検出効率の向上が挙げられる.その課題を解決... [more] DC2018-80
pp.55-60
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