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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2014-12-19 15:10 |
富山 | 高岡テクノドーム | レジスタ三重化回路の信頼性評価手法に関する検討 ○緑川直樹・中村宗幸・サイサナソンカム アロムハック・酒井和哉・福本 聡（首都大東京）  DC2014-72 |
本稿では，著者らの研究グループが提案しているレジスタ三重化回路の信頼性評価手法について報告する．はじめに，レジスタ三重化... [more] | DC2014-72 pp.29-32 |
| DC | 2014-06-20 15:10 |
東京 | 機械振興会館 | 組込み自己テストのための耐故障応答圧縮器 ○深澤祐樹（三重大）・市原英行・井上智生（広島市大） DC2014-14 |
高信頼組込み自己テスト（BIST）はBIST回路自身の一時故障による誤りから回復可能であるため，製造テストだけでなく，L... [more] | DC2014-14 pp.27-32 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-27 15:20 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | 耐マルチサイクル過渡故障を指向した高位合成におけるコントローラの設計について ○石森裕太郎・中祖達也・岩垣 剛・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2013-68 DC2013-34 |
本研究では，マルチサイクル過渡故障に耐性を持つシステムにおけるコントローラの設計について議論する． コントローラの構成... [more] |
VLD2013-68 DC2013-34 pp.45-50 |
| DC, CPSY (併催) |
2013-08-01 18:00 |
福岡 | 北九州国際会議場 | レジスタ多重化による耐過渡故障高信頼プロセッサの評価 ○緑川直樹・小山善史（首都大東京）・新井雅之（日大）・福本 聡（首都大東京） DC2013-20 |
近年，様々なアーキテクチャを前提に過渡故障に対するプロセッサの高信頼設計手法が提案されている．本研究では，そのような過渡... [more] | DC2013-20 pp.21-25 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-27 13:25 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | 耐過渡故障データパス合成における演算器バインディングのためのヒューリスティックアルゴリズム ○中祖達也・大窪涼子・岩垣 剛・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2012-84 DC2012-50 |
LSIの高集積化，高速化，利用範囲の複雑化などの背景を受けて，放射線衝突が原因でLSI内部に発生する一時故障が問題となっ... [more] | VLD2012-84 DC2012-50 pp.147-152 |
| CPSY, DC (共催) |
2012-04-10 13:00 |
東京 | 東京工業大学 | 組込み自己テストによって高電磁環境下の周期的過渡故障を回避するプロセッサ ○根岸正彦・サイサナソンカム アロムハック・新井雅之・福本 聡（首都大東京） CPSY2012-1 DC2012-1 |
本研究では，著者らの研究グループが提案する，高電磁環境下における過渡故障に耐性を持つ順序回路方式の適用例を報告する．より... [more] | CPSY2012-1 DC2012-1 pp.1-6 |
| DC | 2011-10-20 11:30 |
東京 | 機械振興会館 | 高電磁環境下における過渡故障に耐性を持つ順序回路方式の検討 ○サイサナソンカム アロムハック・今井健太・小山善史・新井雅之・福本 聡（首都大東京） DC2011-21 |
近年，電力変換回路の小型化や高密度化の研究が進んでいる．それに伴って，制御回路やゲート駆動回路などの周辺回路と大電流の主... [more] | DC2011-21 pp.7-11 |
| DC, CPSY (共催) |
2011-04-12 13:00 |
東京 | 首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス | 同時多重に発生する過渡故障に耐性を持つ順序回路の提案と評価 福本 聡・○今井健太・小日向秀雄・新井雅之（首都大東京） CPSY2011-1 DC2011-1 |
著者らの研究グループが提案したレジスタ二重化による順序回路高信頼化手法の拡張について検討する．レジスタの三重化によって，... [more] | CPSY2011-1 DC2011-1 pp.1-4 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 14:50 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法 ○邊見勇登・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2010-60 DC2010-27 |
近年，VLSI の高機能化，高集積化に伴い，放射線衝突によるソフトエラーの発生が懸念されている．特に近年の微細化と高速動... [more] | VLD2010-60 DC2010-27 pp.25-30 |
| DC, CPSY (共催) |
2010-04-13 16:20 |
東京 | 東京工業大学（大岡山） | Out-of-Orderスーパスカラ・プロセッサの耐過渡故障方式の改良 ○有馬 慧・岡田崇志・喜多貴信・塩谷亮太・五島正裕・坂井修一（東大） CPSY2010-5 DC2010-5 |
半導体プロセスが微細化するにつれて，ばらつきの問題が深刻化してきている．ばらつきを吸収するために，近年，動的なタイミング... [more] | CPSY2010-5 DC2010-5 pp.21-26 |
| DC, CPSY (共催) |
2009-04-21 11:00 |
東京 | 首都大秋葉原サテライトキャンパス | 同時多重に発生する過渡故障を考慮した高信頼化順序回路 ○小日向秀雄・丸本耕平・新井雅之・福本 聡（首都大東京） CPSY2009-1 DC2009-1 |
過渡故障が同時多重に発生する事態を想定して，時間冗長ならびに空間冗長適用することで順序回路を高信頼化する手法を提案する．... [more] | CPSY2009-1 DC2009-1 pp.1-6 |
| DC | 2008-06-20 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | 同時多重に発生する過渡故障を前提とした高信頼プロセッサ設計 木村真琴・新井雅之・○福本 聡・岩崎一彦（首都大東京） DC2008-13 |
近年の半導体関連技術は微細化，低消費電力化，高性能化を主軸に目覚ましい進歩を遂げてきた．しかし，これらの技術進歩は過渡故... [more] | DC2008-13 pp.13-18 |
| EE | 2006-07-13 15:40 |
東京 | 産業技術総合研究所 | 衛星電源系の故障解析とシミュレーション ○瀬上 剛・艸分宏昌・清水康弘・岐部公一（JAXA） EE2006-15 |
宇宙機は、メンテナンスフリーである必要があるため、軌道上では不具合が起こらない設計を必要とする。また、万が一不具合が発生... [more] | EE2006-15 pp.35-39 |
| CPSY | 2004-12-20 16:05 |
東京 | お茶の水女子大学 | 性能低下ゼロを目指した耐過渡故障マイクロプロセッサ ○佐藤寿倫（九工大） |
性能ペナルティを被らないフォールトトレラントマイクロプロセッサを実現することを検討する。トランジスタの微細化、クロックの... [more] | CPSY2004-60 pp.73-78 |
| NLP, CAS (共催) |
2004-09-13 15:15 |
京都 | 京大 桂キャンパス | 直流送電を含む電力系統の不連続解に起因する過渡ダイナミクス ○薄 良彦・引原隆士（京大）・Hsiao-Dong Chiang（Cornell Univ.） |
本報告では直流送電を含む電力系統の過渡ダイナミクス・安定性を検討する. 交直連系系統の過渡安定性を微分代数方程式(Dif... [more] | CAS2004-25 NLP2004-37 pp.21-26 |
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