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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2023-02-28 15:15 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
組込み自己テストのための複数ランダムパータンレジスタント遷移故障のシード生成法 徐 雁レイ・三浦 怜・○細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）  DC2022-89 |
近年超大規模集積回路の微細化，高速化，電源電圧の低電圧化により，タイミング遅延を伴う欠陥が増加している．それゆえ， 遷移... [more] | DC2022-89 pp.39-44 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2021-03-26 11:40 |
ONLINE | オンライン開催 | コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法 ○飯塚恭平・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大） CPSY2020-63 DC2020-93 |
近年，VLSIの微細化，高速化，電源電圧の低下に伴い，遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっ... [more] | CPSY2020-63 DC2020-93 pp.79-84 |
| DC | 2020-02-26 15:00 |
東京 | 機械振興会館 | LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究 ○史 傑・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2019-94 |
LSI テスト時は，通常動作より多くの信号値遷移が起こることで過度なIRドロップが発生し，LSI回路内部の信号伝搬遅延時... [more] | DC2019-94 pp.49-54 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 15:20 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | コントローラ拡大とパーシャルスキャン設計を用いた遷移故障モデルのためのテスト容易化機能的k時間展開モデル生成法 ○石山悠太・細川利典・池ヶ谷祐輝（日大） VLD2019-43 DC2019-67 |
テスト容易化設計手法において，高い故障検出効率を維持したまま，面積オーバヘッドやテスト実行時間の削減をすることが重要であ... [more] | VLD2019-43 DC2019-67 pp.133-138 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 16:35 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | 独立経路ペアの遅延差を用いたハードウェアトロイ検出テスト生成 ○力野 英・平本悠翔郎・大竹哲史（大分大） VLD2019-46 DC2019-70 |
LSIの信頼性の向上のため，ハードウェアトロイの検出が重要である． 本稿ではハードウェアトロイが挿入された信号線におい... [more] |
VLD2019-46 DC2019-70 pp.151-155 |
| DC | 2019-02-27 13:40 |
東京 | 機械振興会館 | コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当て手法 ○吉村正義（京都産大）・竹内勇希・山崎紘史・細川利典（日大） DC2018-78 |
近年，VLSIの微細化・高速化に伴いタイミング欠陥が増加し，遷移故障モデルにおけるテストが必要不可欠である．しかし，回路... [more] | DC2018-78 pp.43-48 |
| KBSE, SS (共催) IPSJ-SE (連催) [詳細] |
2018-07-18 11:05 |
北海道 | 北海道・帯広市 とかちプラザ 視聴覚室／大集会室 | 状態遷移学習による分散協調システムの異常診断法 ○渡邉陽介（名大）・佐藤守一（豊田中研）・関 浩之・結縁祥治（名大） SS2018-3 KBSE2018-13 |
IoT(Internet of Things)の普及やつながるクルマの進展により,複数のシステムの連携が拡大している.シ... [more] | SS2018-3 KBSE2018-13 pp.13-18 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-06 14:30 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア | 遅延故障BIST高品質化のためのLFSRシード生成法 ○渡邊恭之介・大竹哲史（大分大） VLD2017-35 DC2017-41 |
大規模集積回路の微細化や高速化に伴い，遅延テストの重要性が高まっている． 遅延故障モデルとして，論理ゲートの遅延が増加... [more] |
VLD2017-35 DC2017-41 pp.49-54 |
| SIP, CAS, MSS, VLD (共催) |
2017-06-20 14:50 |
新潟 | 新潟大学五十嵐キャンパス 中央図書館ライブラリーホール | 信号遷移回数を考慮したテストパタン生成のためのSAT問題のサンプリング手法について ○松永裕介（九大） CAS2017-21 VLD2017-24 SIP2017-45 MSS2017-21 |
本稿では信号遷移回数を考慮した遷移故障向けテストパタンを生成する SATソルバを用いた手法について考察を行う． ... [more] |
CAS2017-21 VLD2017-24 SIP2017-45 MSS2017-21 pp.107-112 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-30 09:50 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | SATソルバを用いた信号遷移回数を考慮した遷移故障向けテストパタン生成手法について ○松永裕介（九大） VLD2016-63 DC2016-57 |
本稿では信号遷移回数を考慮した遷移故障向けテストパタンを生成する SATソルバを用いた手法について考察を行う． ... [more] |
VLD2016-63 DC2016-57 pp.111-115 |
| VLD, CAS, MSS, SIP (共催) |
2016-06-16 10:30 |
青森 | 弘前市立観光館 | 信号遷移回数を考慮したランダムテストパタン生成法について ○松永裕介（九大） CAS2016-4 VLD2016-10 SIP2016-38 MSS2016-4 |
本稿ではランダムパタンを用いて遷移故障向けのテストパタン生成をする際に， 信号遷移回数を考慮する手法について提案する... [more] |
CAS2016-4 VLD2016-10 SIP2016-38 MSS2016-4 pp.19-22 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-01 14:40 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | 隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について ○伊勢幸太郎・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） VLD2015-42 DC2015-38 |
IC 内で発生する半断線故障は抵抗成分を持ち,故障の影響は微小遅延として顕在化する.また,トランジスタのばらつきの影響に... [more] | VLD2015-42 DC2015-38 pp.31-36 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 10:05 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | キャプチャ消費電力削減のためのテストポイント挿入法 ○高橋慶安・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） VLD2014-99 DC2014-53 |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more] | VLD2014-99 DC2014-53 pp.185-190 |
| NLP | 2014-11-07 14:20 |
新潟 | 燕三条地場産業振興センター | マルチモード非線形マルコフ連鎖ネットワーク論の展開 ～ プリゴジン散逸構造と同じ基本方程式による分岐解析 ～ ○小関 健・高橋 浩・竹田陽介（上智大）・江口尚孝（大和証券） NLP2014-98 |
最近MIT経済学部のAccemogluらは再び銀行破綻伝播を相転移として物理学とのアナロジー的に検討している。プリゴジン... [more] | NLP2014-98 pp.95-100 |
| DC | 2014-02-10 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法 ○高橋慶安・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2013-83 |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more] | DC2013-83 pp.25-30 |
| DC | 2014-02-10 16:00 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法 ○山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2013-89 |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more] | DC2013-89 pp.61-66 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-29 09:45 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | RTL情報を用いた高品質遷移故障テスト生成法 ○中島寛之・大竹哲史（大分大） VLD2013-94 DC2013-60 |
大規模集積回路(VLSI)の微細化や高速化に伴い，遅延故障のテストが重要になっている．遅延故障とは，論理ゲートや配線の遅... [more] | VLD2013-94 DC2013-60 pp.239-244 |
| IA | 2012-09-21 11:20 |
東京 | IIJ神保町三井ビル | PI-to-PA Address Space Transition on Multihomed Network ○Yong Jin・Kenji Fujikawa（NICT） IA2012-12 |
[more] | IA2012-12 pp.7-12 |
| DC | 2012-06-22 13:00 |
東京 | 機械振興会館 | 故障活性化率向上指向ドントケア割当て法の評価 ○若杉諒介・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2012-9 |
従来，VLSIのテスト生成には単一縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられていている．しかしながら，近年VLSIの大... [more] | DC2012-9 pp.1-6 |
| DC | 2012-02-13 11:05 |
東京 | 機械振興会館 | パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法 ○田中広彬・宮瀬紘平・榎元和成・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2011-78 |
LSIの信号値伝搬が遅延する欠陥を検出するために，遅延テストが広く用いられている．本稿では，遷移遅延故障テストにおけるパ... [more] | DC2011-78 pp.13-18 |
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