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| 講演名 | 2005-04-22 15:20 MEMS片持梁の疲労特性に関する研究 ～ 実デバイスを用いた加速劣化試験と機械的FIT数の導出 ～ ○島津貴之・片山 誠（住友電工）・磯野吉正（立命館大） |
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