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講演名
2010-06-25 16:45
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 摺動機構のモデリング(1) ~
○
和田真一
・
越田圭治
・
園田健人
・
サインダー ノロブリン
・
小田部正能
・
久保田洋彰
(
TMCシステム
)・
澤 孝一郎
(
慶大名誉教授/日本工大
)
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EMD2010-15 CPM2010-29 OME2010-34
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