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講演名
2020-12-04 15:50
Fundamental Evaluation of Impedance Variations in the Connector Caused by High-Frequency Noise Propagation
○
Hiroyuki Ueda
・
Shugo Kaji
・
Youngwoo Kim
・
Daisuke Fujimoto
(
NAIST
)・
Taiki Kitazawa
・
Takashi Kasuga
(
NIT,Nagano College)
)・
Yuichi Hayashi
(
NAIST
)
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