電子情報通信学会技術研究報告

Print edition: ISSN 0913-5685      Online edition: ISSN 2432-6380

Volume 108, Number 41

機構デバイス

開催日 2008-05-16 / 発行日 2008-05-09

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目次

EMD2008-5
3次元加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 3D加振機構の基本特性 ~
○和田真一・天尾 裕・越田圭治・園田健人・峯岸寛人・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤 孝一郎(慶大)
pp. 1 - 6

EMD2008-6
コンタクト開離時アークの金属と気体分子スペクトルの分光測定 ~ 銀と銀合金コンタクトのスペクトル強度 ~
○吉田 清・黒坂竜也(日本工大)
pp. 7 - 12

EMD2008-7
Pdコンタクトにおける接触電圧のステップ的変化の観察
○佐々木俊介・石田広幸・鈴木祥介・谷口正成・高木 相(東北文化学園大)
pp. 13 - 18

EMD2008-8
共焦点光学系を利用したサンプル表面の高さ計測システムの試作
○長谷川 誠(千歳科技大)
pp. 19 - 24

EMD2008-9
抵抗の線形性 ~ 抵抗器の電気ひずみ測定 ~
○箕輪 功・井出裕二・金子峻輔(玉川大)
pp. 25 - 30

EMD2008-10
IEC TC86 JWG9における光配線板の標準化動向
○小林潤也・長瀬 亮(NTT)
pp. 31 - 36

今後、次の点を修正する予定です。(1)欠けている表紙画像・奥付画像を補完いたします。(2)欠けている発行日の情報を補完いたします。

注: 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり,推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります.


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