電子情報通信学会技術研究報告

Print edition: ISSN 0913-5685      Online edition: ISSN 2432-6380

Volume 109, Number 138

機構デバイス

開催日 2009-07-17 / 発行日 2009-07-10

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目次

EMD2009-21
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 加振機構のモデリング(その4) ~
○和田真一・越田圭治・園田健人・サインダー ノロブリン・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤 孝一郎(慶大)
pp. 1 - 6

EMD2009-22
Pdコンタクトの接触電圧の上昇に関する検討
○石田広幸・佐々木俊介・鈴木祥介・谷口正成(東北文化学園大)
pp. 7 - 12

EMD2009-23
Ag電気接点に埋め込まれた永久磁石によって磁気駆動される開離時アークの回転速度
○関川純哉(静岡大)・杉本和是(アンデン)・窪野隆能(静岡大)
pp. 13 - 18

EMD2009-24
光ファイバ出射光スペックルパターンのセンシングへの応用可能性に関する実験的検討
○高橋祐介・川原宗貴・長谷川 誠(千歳科技大)
pp. 19 - 24

EMD2009-25
ワイブル分布関数を利用した接触抵抗データ解析の試み
○長谷川 誠(千歳科技大)
pp. 25 - 30

注: 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり,推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります.


IEICE / 電子情報通信学会