電子情報通信学会技術研究報告

Print edition: ISSN 0913-5685      Online edition: ISSN 2432-6380

Volume 110, Number 230

機構デバイス

開催日 2010-10-15 / 発行日 2010-10-08

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目次

EMD2010-63
電気接点に埋め込まれた永久磁石の極性が開離時アークの回転運動に与える影響
○竹下直弥・関川純哉(静岡大)・窪野隆能(静岡大名誉教授)
pp. 1 - 6

EMD2010-64
電気接点の表面粗さと接触抵抗の関係
○山梨洋平・関川純哉(静岡大)・窪野隆能(静岡大名誉教授)
pp. 7 - 12

EMD2010-65
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗について(13) ~
○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・澤 孝一郎(慶大名誉教授/日本工大)
pp. 13 - 18

EMD2010-66
塗装下での金属の腐食初期段階に関する検討
○齋藤博之・澤田 孝(NTT)
pp. 19 - 24

注: 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり,推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります.


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