| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2006-04-14 10:40
粗粒度動的再構成可能デバイスのPE部テストのためのDFT
○加藤健太郎・姚 玉敏・難波一輝・伊藤秀男（千葉大） |
| 抄録 |
（和） |
本論文ではマルチコンテキストベース動的再構成可能デバイスのPE（Processing Element）部のBIST（組み込み自己テスト）手法を提案する. 本手法は, 動的再構成可能デバイスの基本データ処理要素であるPE中の既存のフリップフロップ(FF)を用いてテスト容易化設計としてLFSR, MISRの機能を有するテスト回路を構成する. これを用いる事により, 高い故障検出率を維持したまま, テストに必要なテストコンフィギュレーション(TC)及びテスト時間を削減する事が可能となる. テスト回路は, 既存のFFを用いて構成するため, 面積オーバヘッドは少なく, 尚且つ擬似乱数パターンを用いているので粗粒度のデバイスであっても高い故障検出率を維持する事ができる. 評価は, NECエレクトロニクス社製のマルチコンテキスト型の動的再構成可能デバイスであるDRPを用いて行う. 提案手法を適用する事により, 従来の決定論的TCによりテストを行った場合と比較し, TC数を59.0\%, テスト実行時間を89.3\%削減でき, またその実装によるPEの面積オーバヘッドが4.3\%となる事を確認した. |
| （英） |
This paper proposes a BIST (Built-In Self Test) method for testing the PEs (Processing Elements) of multi-context based dynamically reconfigurable processor. We use flip-flops existing in PEs to constitute the test circuit which has the function of LFSR (Linear Feedback Shift Register) and MISR (Multiple Input Signature Register) as DFT (Design For Testability).~This method can reduce test execution time while maintaining the high rate of fault coverage.Evaluation of the proposed method examined on DRP-1, a coarse-grained Dynamically Reconfiguration Processor developed by NEC electronics in 2002 is presented.~The number of test configurations and test execution time can be reduced 59.0\% and 89.3\% respectively compared to a deterministic test with 4.3\% area overhead. |
| キーワード |
（和） |
動的再構成可能デバイス / DRP / DFT / PE / / / / |
| （英） |
Coarse Grained Dynamically Reconfigurable Devices / DRP / DFT / PE / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 4, DC2006-4, pp. 19-24, 2006年4月. |
| 資料番号 |
DC2006-4 |
| 発行日 |
2006-04-07 (CPSY, DC) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
CPSY DC |
| 開催期間 |
2006-04-14 - 2006-04-14 |
| 開催地（和） |
東大武田ホール |
| 開催地（英） |
Takeda Hall |
| テーマ（和） |
ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術および一般 |
| テーマ（英） |
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| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
DC |
| 会議コード |
2006-04-CPSY-DC |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
粗粒度動的再構成可能デバイスのPE部テストのためのDFT |
| サブタイトル（和） |
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| タイトル（英） |
Built-In Self-Test for PEs of Coarse Grained Dynamically Reconfigurable Devices |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
動的再構成可能デバイス / Coarse Grained Dynamically Reconfigurable Devices |
| キーワード(2)（和/英） |
DRP / DRP |
| キーワード(3)（和/英） |
DFT / DFT |
| キーワード(4)（和/英） |
PE / PE |
| キーワード(5)（和/英） |
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| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
加藤 健太郎 / Kentaroh Katoh / カトウ ケンタロウ |
| 第1著者 所属（和/英） |
千葉大学 (略称： 千葉大)
Chiba University (略称： チバダイ) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
姚 玉敏 / Yumin Yao / ヨウ ギョクビン |
| 第2著者 所属（和/英） |
千葉大学 (略称： 千葉大)
Chiba University (略称： チバダイ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
難波 一輝 / Kazuteru Namba / ナンバ カズテル |
| 第3著者 所属（和/英） |
千葉大学 (略称： 千葉大)
Chiba University (略称： チバダイ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
伊藤 秀男 / Hideo Ito / イトウ ヒデオ |
| 第4著者 所属（和/英） |
千葉大学 (略称： 千葉大)
Chiba University (略称： チバダイ) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2006-04-14 10:40:00 |
| 発表時間 |
30分 |
| 申込先研究会 |
DC |
| 資料番号 |
CPSY2006-4, DC2006-4 |
| 巻番号（vol） |
vol.106 |
| 号番号（no） |
no.3(CPSY), no.4(DC) |
| ページ範囲 |
pp.19-24 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2006-04-07 (CPSY, DC) |
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