| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2006-04-14 14:45
マイコン搭載フラッシュメモリモジュールの内蔵電源システム
○石川次郎・田中利広・加藤 章・山木貴志・梅本由紀子・下里 健・中村 功・品川 裕（ルネサステクノロジ） |
| 抄録 |
（和） |
マイコン搭載フラッシュメモリモジュールの内蔵電源システムを開発した．フラッシュメモリの書換え(P/E)回数を向上させるための回路システムとして，メモリセルしきい値の詳細評価を可能にする広範囲出力電圧方式，P/E時のストレスを軽減するP/E温度補償方式を構築する．また，モジュールテスト時間短縮のためのオートトリミング方式を提案する．広範囲出力電圧方式はフラッシュメモリのベリファイ回路に適用し，メモリセルのしきい値判定精度を向上させ，書換え(P/E)条件の最適化を容易にする．P/E温度補償方式はP/E時のメモリセル印加電圧に温度勾配を付加する回路であり，メモリセルへの過剰なストレスを減少させる．オートトリミング方式は多数のマイコン内蔵電源の出力電圧を同時に合わせ込み，P/E特性の向上とテスト時間の短縮を実現する． |
| （英） |
We present a new internal voltage generation system of flash memory module embedded in a microcontroller. One of the features is an auto-trimming system that arranges output of internal voltage generators with target values using embedded CPU. The others are wide range voltage generator and new temperature dependency voltage generator for verify operations. Our system suppresses voltage variations for many chips simultaneously, so the system can reduce test cost and improve reliability of flash memory module. |
| キーワード |
（和） |
フラッシュ / マイコン搭載 / 内蔵電源 / 温度補償 / ベリファイ / / / |
| （英） |
Flash / Embedded in a Microcontroller / Internal Voltage Generator / Temperature Dependency Voltage Generator / Verify / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 2, ICD2006-20, pp. 109-113, 2006年4月. |
| 資料番号 |
ICD2006-20 |
| 発行日 |
2006-04-06 (ICD) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
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