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| 講演名 | 2006-04-14 13:00 ［特別招待講演］バッテリ機器向け低電力・低電圧SRAM回路技術 ○山岡雅直（日立） エレソ技報アーカイブへのリンク：  ICD2006-17 |
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| 抄録 | （和） | 携帯機器向けのプロセッサでは、混載SRAMの電力がプロセッサ全体の電力に与える影響が大きく、低電力混載SRAM回路技術が低電力プロセッサを実現するためのキー技術の1つとなっている。とくに、携帯電話向けアプリケーションプロセッサでは、回路が動作しているアクティブ時の電力と、回路が動作していないスタンバイ状態での電力の双方を低減する必要がある。これを実現するために、電源分割制御方式、3つの動作モードを切り替える技術、低電圧動作のために書き込みマージンを増加させる技術、動作電力を削減するレプリカ回路技術、低リーク電流を特徴とするワード線ドライバ等を開発した。 |
| （英） | In the processors for mobile devices, the power consumption of the embedded SRAMs has large impact on the total power consumption of whole processor. Therefore, the low-power embedded SRAM techniques play an important role to realize a low-power processor. Especially in the application processor used in a cellular phone, to reduce both the active power and the stand-by power is necessary. We developed a subdivisional-power-line control technique, switching three operating mode technique, write-margin enhancement technique to enable a low-voltage operation, replica circuit technique, low-leakage current word-line driver. |
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| キーワード | （和） | 低電力SRAM / アプリケーションプロセッサ / 低リーク電流 / 耐しきい値電圧ばらつき回路 / / / / |
| （英） | Low-Power SRAM / Application Processor / Low-Leakage / Immunity to Vth Variation / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 106, no. 2, ICD2006-17, pp. 91-96, 2006年4月. | |
| 資料番号 | ICD2006-17 | |
| 発行日 | 2006-04-06 (ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2006-17 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
| 開催期間 | 2006-04-13 - 2006-04-14 |
| 開催地（和） | 大分大学 |
| 開催地（英） | Oita University |
| テーマ（和） | 新メモリ技術とシステムLSI <オーガナイザ：山内寛行（福岡工業大学）> |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2006-04-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | バッテリ機器向け低電力・低電圧SRAM回路技術 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Low-Power Low-Voltage SRAM Design for Battery Operation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 低電力SRAM / Low-Power SRAM |
| キーワード(2)（和/英） | アプリケーションプロセッサ / Application Processor |
| キーワード(3)（和/英） | 低リーク電流 / Low-Leakage |
| キーワード(4)（和/英） | 耐しきい値電圧ばらつき回路 / Immunity to Vth Variation |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山岡 雅直 / Masanao Yamaoka / ヤマオカ マサナオ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日立製作所 (略称： 日立) Hitachi, Ltd. (略称： Hitachi, Ltd.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2006-04-14 13:00:00 |
| 発表時間 | 50分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2006-17 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | no.2 |
| ページ範囲 | pp.91-96 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2006-04-06 (ICD) |
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