| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2006-04-18 14:30
高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出 (その2) ○萓野良樹(秋田大)・丹 健二・山川清志・駒木根隆士(秋田県産技総研センター)・井上 浩(秋田大) EMCJ2006-4 |
| 抄録 |
(和) |
近年,プリント回路基板や集積回路等の電子機器の近傍磁界測定は,電磁干渉妨害(ElectroMagnetic Interference: EMI)の評価及び抑制法の確立のために必要不可欠になっている.
本研究では,高空間分解能を有し,かつ高周波まで計測可能な磁界プローブの開発を目的として,磁気インピーダンス(Giant Magneto-Impedance: GMI)効果に基づいた高周波キャリア型磁界プローブの試作を行い,その有効性を従来のループ型プローブによる測定結果並びに計算結果との比較により検討した.
その結果,GMIセンサチップを実装する基板によって磁界分布が乱され,null点の位置について計算結果と200~$\mu$mの差異が生じたが,提案するGMIセンサは線路端への電流集中を明確に検出でき,そして1~GHzまでの高周波磁界を検出可能であることが確認できた. |
| (英) |
Recently, magnetic near field measurements of electronic devices are indispensable to establish techniques of evaluating and suppressing an electromagnetic interference.
In this paper, a high frequency carrier type magnetic field probe, which has high sensitivity and high resolution, called GMI (giant magneto-impedance) probe, is proposed.
And its validity of magnetic near field measurements is demonstrated by comparing with a conventional shielded loop coil probe and numerical modeling.
The GMI probe can clearly detect current concentration at an edge of a microstrip line, which allows high resolution measurements.
But, there is slight difference in the position of null points between measured and calculated results. |
| キーワード |
(和) |
磁界プローブ / 高周波キャリア型 / 磁気インピーダンス効果 / / / / / |
| (英) |
Magnetic Probe / High Frequency Carrier Type / Magnet-Impedance / / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 10, EMCJ2006-4, pp. 19-23, 2006年4月. |
| 資料番号 |
EMCJ2006-4 |
| 発行日 |
2006-04-11 (EMCJ) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
EMCJ2006-4 |