ご案内 入会して研究会活動をもっとお得に!研究会参加費・年間登録費が会員価格になります。
お知らせ 【重要】研究会参加費の支払いおよび原稿アップロード手続きの変更に関するご案内
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2006-05-26 15:00
不完全デバッグモデルのパラメータ推定は可能か?
岡村寛之佐光哲哉・○土肥 正広島大
抄録 (和) 統計的モデルに基づいたソフトウェア信頼性評価において,検出されたバグ(フォールト)が正しく修正されたか否かは重要な要因である.過去の研究においても,検出フォールトが不完全に修正されることを仮定したモデルの構築とその応用例は数多く見受けられる.しかしながら,統計的観点から不完全デバッグがモデルパラメータ推定手続きに与える影響については明確にされていない.本研究発表では,フォールトの修正履歴に関するデータが与えられたもとでのソフトウェア信頼性モデルのパラメータ推定問題を考える.特に,フォールトの修正履歴の観測不完全性に着目した推定アルゴリズムの構築を行う.また,パラメータ推定量に関する統計的性質を考察する. 
(英) In the area of software reliability assessment based on statistical modeling, it is important to estimate whether detected faults have been correctly removed or not. Thus some researchers attempt to build the stochastic models to represent such an imperfect-debugging event, and present their application to practical examples. However, since most of them are interested in the modeling of imperfect debugging, no one reveal dependence of the imperfect debugging on estimation of model parameters yet. In this paper, we consider an estimation problem to detect parameters of software reliability models from the history of debugging, and particularly propose an estimation procedure based on EM (Expectation-Maximization) algorithm by incorporating the debugging activity. Finally, we investigate statistical properties of estimated parameters.
キーワード (和) 不完全デバッグ / ソフトウェア信頼性モデル / EM アルゴリズム / / / / /  
(英) imperfect debugging / software reliability / EM algorithm / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 106, no. 76, R2006-11, pp. 25-30, 2006年5月.
資料番号 R2006-11 
発行日 2006-05-19 (R) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
PDFダウンロード

研究会情報
研究会 R  
開催期間 2006-05-26 - 2006-05-26 
開催地(和) 徳島大学 
開催地(英) University of Tokushima 
テーマ(和) ソフトウェアの信頼性、信頼性理論、信頼性一般 
テーマ(英) Softwear Reliability, Reliability Theory, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 R 
会議コード 2006-05-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 不完全デバッグモデルのパラメータ推定は可能か? 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Can we estimate parameters of imperfect-debugging models? 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 不完全デバッグ / imperfect debugging  
キーワード(2)(和/英) ソフトウェア信頼性モデル / software reliability  
キーワード(3)(和/英) EM アルゴリズム / EM algorithm  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡村 寛之 / Hiroyuki Okamura / オカムラ ヒロユキ
第1著者 所属(和/英) 広島大学 (略称: 広島大)
Hiroshima University (略称: Hiroshima Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐光 哲哉 / Tetsuya Sakoh / サコウ テツヤ
第2著者 所属(和/英) 広島大学 (略称: 広島大)
Hiroshima University (略称: Hiroshima Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 土肥 正 / Tadashi Dohi / ドヒ タダシ
第3著者 所属(和/英) 広島大学 (略称: 広島大)
Hiroshima University (略称: Hiroshima Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第21著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第21著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第22著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第22著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第23著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第23著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第24著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第24著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第25著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第25著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第26著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第26著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第27著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第27著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第28著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第28著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第29著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第29著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第30著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第30著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第31著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第31著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第32著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第32著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第33著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第33著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第34著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第34著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第35著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第35著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第36著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第36著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第3著者 
発表日時 2006-05-26 15:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 R 
資料番号 R2006-11 
巻番号(vol) vol.106 
号番号(no) no.76 
ページ範囲 pp.25-30 
ページ数
発行日 2006-05-19 (R) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会