| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2006-05-26 14:45
>4GHz ATEアプリケーションの為の1.83ps分解能CMOS任意タイミング発生器
○岡安俊幸・須田昌克・山本和弘・寒竹秀介・須藤 訓・渡邊大輔（アドバンテスト） |
| 抄録 |
（和） |
テストレート4GHz以上の半導体試験装置(ATE)向けに開発した高速高精度のCMOSダイナミック任意タイミング発生器(TG)について紹介する．開発したTGの最大動作周波数は1.066GHzであり，マルチプレクス動作時には4.266GHzのテストレートに対応可能である．時間分解能は1.83psで，INLは+/-4ps以下である．さらに，従来用いられていたリニアリティ校正用のRAMを不要とした．ランダムジッタは0.7ps rmsを達成した．試作チップにはメタル7層の0.18umのCMOSプロセスを使用した． |
| （英） |
A high-speed, precise fully CMOS dynamic arbitrary timing generator for >4GHz automatic test equipment (ATE) applications is demonstrated. Maximum operating frequency of 1.066GHz and 4.266GHz (when multiplexed), timing resolution of 1.83ps, INL less than +/-4ps without calibration RAM, random jitter less than 0.7ps rms are achieved. This chip was fabricated in a 0.18um CMOS, Al 7-layer metal process. |
| キーワード |
（和） |
CMOS / 半導体試験装置 / タイミング発生器 / ジッタ / / / / |
| （英） |
CMOS / Automatic Test Equipment (ATE) / Timing Generator / Jitter / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 71, ICD2006-36, pp. 83-87, 2006年5月. |
| 資料番号 |
ICD2006-36 |
| 発行日 |
2006-05-18 (ICD) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
ICD |
| 開催期間 |
2006-05-25 - 2006-05-26 |
| 開催地（和） |
神戸大学 |
| 開催地（英） |
Kobe University |
| テーマ（和） |
VLSI一般（ISSCC2006特集）<オーガナイザ：吉本 雅彦（神戸大学）> |
| テーマ（英） |
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| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
ICD |
| 会議コード |
2006-05-ICD |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
>4GHz ATEアプリケーションの為の1.83ps分解能CMOS任意タイミング発生器 |
| サブタイトル（和） |
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| タイトル（英） |
1.83ps-Resolution CMOS Dynamic Arbitrary Timing Generator for >4GHz ATE Applications |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
CMOS / CMOS |
| キーワード(2)（和/英） |
半導体試験装置 / Automatic Test Equipment (ATE) |
| キーワード(3)（和/英） |
タイミング発生器 / Timing Generator |
| キーワード(4)（和/英） |
ジッタ / Jitter |
| キーワード(5)（和/英） |
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| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
岡安 俊幸 / Toshiyuki Okayasu / オカヤス トシユキ |
| 第1著者 所属（和/英） |
株式会社アドバンテスト (略称： アドバンテスト)
Advantest Corporation (略称： Advantest) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
須田 昌克 / Masakatsu Suda / スダ マサカツ |
| 第2著者 所属（和/英） |
株式会社アドバンテスト (略称： アドバンテスト)
Advantest Corporation (略称： Advantest) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
山本 和弘 / Kazuhiro Yamamoto / ヤマモト カズヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） |
株式会社アドバンテスト (略称： アドバンテスト)
Advantest Corporation (略称： Advantest) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
寒竹 秀介 / Shusuke Kantake / カンタケ シュウスケ |
| 第4著者 所属（和/英） |
株式会社アドバンテスト (略称： アドバンテスト)
Advantest Corporation (略称： Advantest) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
須藤 訓 / Satoshi Sudou / スドウ サトシ |
| 第5著者 所属（和/英） |
株式会社アドバンテスト (略称： アドバンテスト)
Advantest Corporation (略称： Advantest) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
渡邊 大輔 / Daisuke Watanabe / ワタナベ ダイスケ |
| 第6著者 所属（和/英） |
株式会社アドバンテスト (略称： アドバンテスト)
Advantest Corporation (略称： Advantest) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第7著者 所属（和/英） |
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| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第34著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第36著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2006-05-26 14:45:00 |
| 発表時間 |
30分 |
| 申込先研究会 |
ICD |
| 資料番号 |
ICD2006-36 |
| 巻番号（vol） |
vol.106 |
| 号番号（no） |
no.71 |
| ページ範囲 |
pp.83-87 |
| ページ数 |
5 |
| 発行日 |
2006-05-18 (ICD) |