講演抄録/キーワード |
講演名 |
2006-06-30 09:45
凹凸形状回折格子を用いた半導体薄膜BH-DFBレーザ ○阪本真一・内藤秀幸・田村茂雄・丸山武男・荒井滋久(東工大) エレソ技報アーカイブへのリンク:OPE2006-15 LQE2006-19 |
抄録 |
(和) |
半導体薄膜活性層分離型DFBレーザは、光閉じ込め係数$\xi$と屈折率結合係数$\kappa$_{i}の増大により、低しきい値化及び短共振器化が期待できる。今回、屈折率結合の向上のため、半導体薄膜に凹凸形状を装荷した狭ストライプ半導体薄膜レーザを作製した。ストライプ幅W_{s}=0.6 $\mu$mの素子において明確なストップバンド幅68nmを確認することが出来、屈折率結合係数$\kappa$i=2950 cm^{-1}が見積もられた。又、同一の元基板を用いて、埋め込みの違う2種類の素子を作製した結果、共振器長依存性に明確な差異を確認することが出来、共振器長を短くしても十分な反射率が得られていることを示した。共振器長L=80$\mu$mに設計した素子において最低しきい値パワーはP_{th}=0.34mW、しきい値の2倍において副モード抑圧比(SMSR)は35dB以上が得られた。 |
(英) |
Membrane DFB structure is very attractive for low threshold and short cavity operation due to the strong optical confinement into the semiconductor core layer and high reflective mirror using DFB structure with wirelike active region. In this paper, we achieved high index coupling of $\kappa$i=2,950 cm-1 in spite of a narrow stripe width of W_{s}=0.6 $\mu$m using high refractive index difference structure, named of surface corrugation grating. We observed clearly difference of the threshold power dependence of cavity length between flat surface membrane laser and surface corrugation grating membrane laser with same initial wafer. And low threshold operation of P_{th}=0.34 mW operation was realized with surface corrugation structure. A sub mode suppuration ratio (SMSR) was achieved over 35dB at P=2P_{th}. |
キーワード |
(和) |
DFBレーザ / 強光閉じ込め / GaInAsP/InP / CH4/H2-RIE / ベンゾシクロブテン (BCB) / / / |
(英) |
DFB laser / High optical confinement / GaInAsP/InP / CH4/H2-RIE / Benzocyclobutene (BCB) / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 134, LQE2006-19, pp. 1-6, 2006年6月. |
資料番号 |
LQE2006-19 |
発行日 |
2006-06-23 (OPE, LQE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
著作権に ついて |
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