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講演抄録／キーワード
講演名 2006-08-18 10:15
45nm世代のLSTP SRAMへのNi FUIS電極適用によるしきい値ばらつき抑制効果
○岡山康則・齋藤友博・大石　周・中嶋一明・松尾浩司・谷口修一・小野高稔・中山和宏・渡辺竜太・英保亜弓・菰田泰生・木村泰己・濱口雅史・竹川陽一・青山知憲（東芝）
抄録 （和） (まだ登録されていません) 
（英） (Not available yet)
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文献情報 信学技報, vol. 106, no. 206, SDM2006-145, pp. 115-120, 2006年8月.
資料番号 SDM2006-145 
発行日 2006-08-10 (SDM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
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研究会情報
研究会 ICD SDM  
開催期間 2006-08-17 - 2006-08-18 
開催地（和） 北海道大学 
開催地（英） Hokkaido University 
テーマ（和） VLSI回路、デバイス技術（高速、低電圧、低消費電力） <オーガナイザ：平本 俊郎（東京大学）> 
テーマ（英）  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2006-08-ICD-SDM 
本文の言語 日本語 
タイトル（和） 45nm世代のLSTP SRAMへのNi FUIS電極適用によるしきい値ばらつき抑制効果 
サブタイトル（和）  
タイトル（英） Suppression effects of threshold voltage variation with Ni FUSI gate electrode for 45nm node and beyond LSTP and SRAM devices 
サブタイトル（英）  
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第1著者 氏名（和/英/ヨミ） 岡山 康則 / Yasunori Okayama / オカヤマ ヤスノリ
第1著者 所属（和/英） 株式会社 東芝 (略称： 東芝)
TOSHIBA Corporation (略称： TOSHIBA)
第2著者 氏名（和/英/ヨミ） 齋藤 友博 / Tomohiro Saito / サイトウ トモヒロ
第2著者 所属（和/英） 株式会社 東芝 (略称： 東芝)
TOSHIBA Corporation (略称： TOSHIBA)
第3著者 氏名（和/英/ヨミ） 大石 周 / Aname Oishi / オオイシ アマネ
第3著者 所属（和/英） 株式会社 東芝 (略称： 東芝)
TOSHIBA Corporation (略称： TOSHIBA)
第4著者 氏名（和/英/ヨミ） 中嶋 一明 / Kazuaki Nakajima / ナカジマ カズアキ
第4著者 所属（和/英） 株式会社 東芝 (略称： 東芝)
TOSHIBA Corporation (略称： TOSHIBA)
第5著者 氏名（和/英/ヨミ） 松尾 浩司 / Kouji Matsuo / マツオ コウジ
第5著者 所属（和/英） 株式会社 東芝 (略称： 東芝)
TOSHIBA Corporation (略称： TOSHIBA)
第6著者 氏名（和/英/ヨミ） 谷口 修一 / Syuichi Taniguchi / タニグチ シュウイチ
第6著者 所属（和/英） 株式会社 東芝 (略称： 東芝)
TOSHIBA Corporation (略称： TOSHIBA)
第7著者 氏名（和/英/ヨミ） 小野 高稔 / Takatoshi Ono / オノ タカトシ
第7著者 所属（和/英） 株式会社 東芝 (略称： 東芝)
TOSHIBA Corporation (略称： TOSHIBA)
第8著者 氏名（和/英/ヨミ） 中山 和宏 / Kazuhiro Nakayama / ナカヤマ カズヒロ
第8著者 所属（和/英） 株式会社 東芝 (略称： 東芝)
TOSHIBA Corporation (略称： TOSHIBA)
第9著者 氏名（和/英/ヨミ） 渡辺 竜太 / Ryota Watanabe / ワタナベ リョウタ
第9著者 所属（和/英） 株式会社 東芝 (略称： 東芝)
TOSHIBA Corporation (略称： TOSHIBA)
第10著者 氏名（和/英/ヨミ） 英保 亜弓 / Ayumi Eiho / エイホ アユミ
第10著者 所属（和/英） 株式会社 東芝 (略称： 東芝)
TOSHIBA Corporation (略称： TOSHIBA)
第11著者 氏名（和/英/ヨミ） 菰田 泰生 / Taiki Komoda / コモダ ヤスオ
第11著者 所属（和/英） 株式会社 東芝 (略称： 東芝)
TOSHIBA Corporation (略称： TOSHIBA)
第12著者 氏名（和/英/ヨミ） 木村 泰己 / Taiki Kimura / キムラ タイキ
第12著者 所属（和/英） 株式会社 東芝 (略称： 東芝)
TOSHIBA Corporation (略称： TOSHIBA)
第13著者 氏名（和/英/ヨミ） 濱口 雅史 / Mssahumi Hamaguchi / ハマグチ ハマグチ
第13著者 所属（和/英） 株式会社 東芝 (略称： 東芝)
TOSHIBA Corporation (略称： TOSHIBA)
第14著者 氏名（和/英/ヨミ） 竹川 陽一 / Yoichi Takekawa / タケカワ ヨウイチ
第14著者 所属（和/英） 株式会社 東芝 (略称： 東芝)
TOSHIBA Corporation (略称： TOSHIBA)
第15著者 氏名（和/英/ヨミ） 青山 知憲 / Tomonori Aoyama / アオヤマ トモノリ
第15著者 所属（和/英） 株式会社 東芝 (略称： 東芝)
TOSHIBA Corporation (略称： TOSHIBA)
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講演者 第1著者 
発表日時 2006-08-18 10:15:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 SDM2006-145, ICD2006-99 
巻番号（vol） vol.106 
号番号（no） no.206(SDM), no.207(ICD) 
ページ範囲 pp.115-120 
ページ数 6 
発行日 2006-08-10 (SDM, ICD) 

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