| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2006-10-06 11:50
電流注入発光寿命によるGan系LEDにおける内部量子効率の評価
○財満康太郎（東芝）・成田哲生（名大）・斎藤真司・橘 浩一・名古 肇・波多腰玄一・布上真也（東芝） |
| 抄録 |
（和） |
InGaN量子井戸を活性層とする発光ダイオード(Light Emitting Diode, LED)を試料として、電流注入による内部量子効率を評価する方法を検討した。パルス電流注入時のエレクトロルミネッセンスの発光緩和寿命の測定を用いた評価方法のモデルとその測定のための実験系を説明する。実際にLEDについて内部量子効率を見積もり、注入電流の増大とともに内部量子効率が増大していくことが観察された。 |
| （英） |
The internal quantum efficiency of GaN-based light emitting diodes (LEDs) was analyzed by investigating electroluminescence lifetime. A model and experimental results of this method were described. The internal quantum efficiency increased as the injected current increased. |
| キーワード |
（和） |
LED / 内部量子効率 / InGaN量子井戸 / エレクトロルミネッセンス / 発光寿命 / / / |
| （英） |
LED / internal quantum efficiency / InGaN multiple quantum well / electroluminescence / lifetime / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 271, LQE2006-70, pp. 79-82, 2006年10月. |
| 資料番号 |
LQE2006-70 |
| 発行日 |
2006-09-28 (ED, CPM, LQE) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
ED CPM LQE |
| 開催期間 |
2006-10-05 - 2006-10-06 |
| 開催地（和） |
京都大学 |
| 開催地（英） |
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| テーマ（和） |
窒化物および混晶半導体デバイス |
| テーマ（英） |
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| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
LQE |
| 会議コード |
2006-10-ED-CPM-LQE |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
電流注入発光寿命によるGan系LEDにおける内部量子効率の評価 |
| サブタイトル（和） |
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| タイトル（英） |
Analysis of internal quantum efficiency of GaN-based light emitting diodes by investigating electroluminescence lifetime |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
LED / LED |
| キーワード(2)（和/英） |
内部量子効率 / internal quantum efficiency |
| キーワード(3)（和/英） |
InGaN量子井戸 / InGaN multiple quantum well |
| キーワード(4)（和/英） |
エレクトロルミネッセンス / electroluminescence |
| キーワード(5)（和/英） |
発光寿命 / lifetime |
| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
財満 康太郎 / Kotaro Zaima / ザイマ コウタロウ |
| 第1著者 所属（和/英） |
株式会社東芝 (略称： 東芝)
Toshiba Corporation (略称： Toshiba) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
成田 哲生 / Tetsuo Narita / ナリタ テツオ |
| 第2著者 所属（和/英） |
名古屋大学 (略称： 名大)
Nagoya University (略称： Nagoya Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
斎藤 真司 / Shinji Saito / サイトウ シンジ |
| 第3著者 所属（和/英） |
株式会社東芝 (略称： 東芝)
Toshiba Corporation (略称： Toshiba) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
橘 浩一 / Koichi Tachibana / タチバナ コウイチ |
| 第4著者 所属（和/英） |
株式会社東芝 (略称： 東芝)
Toshiba Corporation (略称： Toshiba) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
名古 肇 / Hajime Nago / ナゴ ハジメ |
| 第5著者 所属（和/英） |
株式会社東芝 (略称： 東芝)
Toshiba Corporation (略称： Toshiba) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
波多腰 玄一 / Genichi Hatakoshi / ハタコシ ゲンイチ |
| 第6著者 所属（和/英） |
株式会社東芝 (略称： 東芝)
Toshiba Corporation (略称： Toshiba) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） |
布上 真也 / Shinya Nunoue / ヌノウエ シンヤ |
| 第7著者 所属（和/英） |
株式会社東芝 (略称： 東芝)
Toshiba Corporation (略称： Toshiba) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第36著者 所属（和/英） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2006-10-06 11:50:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
LQE |
| 資料番号 |
ED2006-166, CPM2006-103, LQE2006-70 |
| 巻番号（vol） |
vol.106 |
| 号番号（no） |
no.269(ED), no.270(CPM), no.271(LQE) |
| ページ範囲 |
pp.79-82 |
| ページ数 |
4 |
| 発行日 |
2006-09-28 (ED, CPM, LQE) |