| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2006-11-24 15:20
The Pattern Recognition of Critical Fault Clearing Time Functions by Using Neural Networks
○Tetsushi Miki・Hiroki Ishii・Kunihiro Sasayama（Anan National College of Tech.） |
| 抄録 |
（和） |
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| （英） |
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| キーワード |
（和） |
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| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 376, PRMU2006-155, pp. 153-158, 2006年11月. |
| 資料番号 |
PRMU2006-155 |
| 発行日 |
2006-11-17 (PRMU) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
PRMU |
| 開催期間 |
2006-11-23 - 2006-11-24 |
| 開催地（和） |
韓国済州島 |
| 開催地（英） |
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| テーマ（和） |
日本・韓国におけるPRMU技術の産業応用 |
| テーマ（英） |
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| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
PRMU |
| 会議コード |
2006-11-PRMU |
| 本文の言語 |
英語 |
| タイトル（和） |
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| サブタイトル（和） |
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| タイトル（英） |
The Pattern Recognition of Critical Fault Clearing Time Functions by Using Neural Networks |
| サブタイトル（英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
三木 哲志 / Tetsushi Miki / ミキ テツシ |
| 第1著者 所属（和/英） |
阿南工業高等専門学校 (略称： 阿南高専)
Anan National College of Technology (略称： Anan National College of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
石井 弘樹 / Hiroki Ishii / イシイ ヒロキ |
| 第2著者 所属（和/英） |
阿南工業高等専門学校 (略称： 阿南高専)
Anan National College of Technology (略称： Anan National College of Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
笹山 邦博 / Kunihiro Sasayama / ササヤマ クニヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） |
阿南工業高等専門学校 (略称： 阿南高専)
Anan National College of Technology (略称： Anan National College of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第36著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2006-11-24 15:20:00 |
| 発表時間 |
20分 |
| 申込先研究会 |
PRMU |
| 資料番号 |
PRMU2006-155 |
| 巻番号（vol） |
vol.106 |
| 号番号（no） |
no.376 |
| ページ範囲 |
pp.153-158 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2006-11-17 (PRMU) |
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