| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2006-11-28 16:10
メモリコアに対する組込み自己修復を考慮したSoCのテストスケジューリング
○福田雄介・米田友和・藤原秀雄（奈良先端大） |
| 抄録 |
（和） |
本研究では，システムオンチップに搭載されている組込み自己修復機能を持つメモリコアに対する消費電力制約下でのテストスケジューリング法を提案する．提案手法では，組込み自己修復機能を持つメモリコアは，テスト，診断・修復，再テストの3つのステージによりテストされるとし，各ステージはその順序関係を満たしていれば連続して行われる必要はないとすることで，より効率的なテストスケジューリングを可能とする．また，故障が最初に検出された時点でシステムオンチップのテストを終了するというabort-on-failの概念を利用することで，テスト時間の期待値の削減が可能である． |
| （英） |
This paper presents a power-constrained test scheduling mehtod for SoCs with built-in self repairable memories which are tested the following three stages:1)test, 2)diagnosis/repair and 3)re-test. The proposed method can acheive efficient and effective scheduling by considering that it is not necessary to test the three stages of each core consecutively as long as they are tested in correct order. Moreover, by using the concept of abort-on-fail which means that the test is aborted as soon as a fault is detected, we can reduce expected test time. |
| キーワード |
（和） |
システムオンチップ / 組込み自己修復 / 消費電力 / テストスケジューリング / / / / |
| （英） |
System-on-Chip / Built-In Self-Repair / Power Constraints / Test Scheduling / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 390, DC2006-48, pp. 59-64, 2006年11月. |
| 資料番号 |
DC2006-48 |
| 発行日 |
2006-11-21 (VLD, DC) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
RECONF CPSY VLD DC IPSJ-SLDM IPSJ-ARC |
| 開催期間 |
2006-11-28 - 2006-11-30 |
| 開催地（和） |
北九州国際会議場 |
| 開催地（英） |
Kitakyushu International Conference Center |
| テーマ（和） |
デザインガイア2006 ―VLSI設計の新しい大地を考える研究会― |
| テーマ（英） |
Design Gaia 2006 ---A New Frontier in VLSI Design--- |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
DC |
| 会議コード |
2006-11-RECONF-CPSY-VLD-DC-IPSJ-SLDM-IPSJ-ARC |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
メモリコアに対する組込み自己修復を考慮したSoCのテストスケジューリング |
| サブタイトル（和） |
|
| タイトル（英） |
Test Scheduling for SoCs with Built-In Self-Repairable Memory Cores |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
システムオンチップ / System-on-Chip |
| キーワード(2)（和/英） |
組込み自己修復 / Built-In Self-Repair |
| キーワード(3)（和/英） |
消費電力 / Power Constraints |
| キーワード(4)（和/英） |
テストスケジューリング / Test Scheduling |
| キーワード(5)（和/英） |
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| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
福田 雄介 / Yusuke Fukuda / フクダ ユウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） |
奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
米田 友和 / Tomokazu Yoneda / ヨネダ トモカズ |
| 第2著者 所属（和/英） |
奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
藤原 秀雄 / Hideo Fujiwara / フジワラ ヒデオ |
| 第3著者 所属（和/英） |
奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2006-11-28 16:10:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
DC |
| 資料番号 |
VLD2006-61, DC2006-48 |
| 巻番号（vol） |
vol.106 |
| 号番号（no） |
no.387(VLD), no.390(DC) |
| ページ範囲 |
pp.59-64 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2006-11-21 (VLD, DC) |