| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2006-11-28 16:35
動的再構成可能なプロセッサの自己テストに関する考察
○藤井昂志・市原英行・井上智生（広島市大） |
| 抄録 |
（和） |
マルチコンテキスト型の動的再構成可能なプロセッサでは，1つのタスクの実行中に複数のコンテキストを切り替えることで高い面積効率を実現している．動的再構成可能なプロセッサは従来の再構成可能デバイスと構成が異なるため,そのテストには新たな手法が必要である．本論文では，テストフレームを用いた動的再構成可能なプロセッサの自己テスト手法を提案する．テストフレームの構成はコンテキストによって表現されるため，提案手法ではハードウェアオーバーヘッドがない．テストフレームはProcessing Element（PE）を複数用いて構成したテストパターン生成器，応答解析器とテスト対象PEから成り，これを切り替えることでプロセッサ全体のテストを実行する．テストフレームの構成が異なれば，テストの実行に必要なコンテキスト数が異なり，また，サイクルタイムも異なるため総テスト実行時間も変化する．ここでは，テストフレームの構成例を示しながら，テストフレームの構成とテスト実行時間，コンテキスト数の関係を考察する．テストの対象となるデバイスによりコンテキスト数の制約やコンテキスト数最小，テスト実行時間最小などのテストの方針も異なる．本手法により，コンテキスト数制約などのプロセッサの特性に応じて適切なテストフレーム構成により，テスト実行時間を最小にできる． |
| （英） |
Dynamically Reconfigurable Processor (DRP), which can execute a task with multiple hardware contexts so as to achieve high area-efficiency, needs a new test methodology because of its distinctive architecture. In this paper, we propose a a self-test method of DRPs without area overhead. This method constructs a test flame of processor elements (PEs) such that it consists of test pattern generators, response analyzers and PEs under test, and switches several test flames dynamically so as to test all the PEs. Since the structure of a test flame decides the number of contexts and test application time, we design some test flames with different structures and discuss the relationship of the structures to the number of contexts and test application time. Based on this discussion, we can construct the best test flame according to a given test environment. |
| キーワード |
（和） |
動的再構成可能なプロセッサ / 自己テスト / コンテキスト数 / テスト実行時間 / テストフレーム / / / |
| （英） |
Dynamically reconfigurable processors / self-test / number of contexts / test application time / test-frames / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 390, DC2006-49, pp. 65-70, 2006年11月. |
| 資料番号 |
DC2006-49 |
| 発行日 |
2006-11-21 (VLD, DC) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
RECONF CPSY VLD DC IPSJ-SLDM IPSJ-ARC |
| 開催期間 |
2006-11-28 - 2006-11-30 |
| 開催地（和） |
北九州国際会議場 |
| 開催地（英） |
Kitakyushu International Conference Center |
| テーマ（和） |
デザインガイア2006 ―VLSI設計の新しい大地を考える研究会― |
| テーマ（英） |
Design Gaia 2006 ---A New Frontier in VLSI Design--- |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
DC |
| 会議コード |
2006-11-RECONF-CPSY-VLD-DC-IPSJ-SLDM-IPSJ-ARC |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
動的再構成可能なプロセッサの自己テストに関する考察 |
| サブタイトル（和） |
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| タイトル（英） |
A Self-Test of Dynamically Reconfigurable Processors |
| サブタイトル（英） |
|
| キーワード(1)（和/英） |
動的再構成可能なプロセッサ / Dynamically reconfigurable processors |
| キーワード(2)（和/英） |
自己テスト / self-test |
| キーワード(3)（和/英） |
コンテキスト数 / number of contexts |
| キーワード(4)（和/英） |
テスト実行時間 / test application time |
| キーワード(5)（和/英） |
テストフレーム / test-frames |
| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
藤井 昂志 / Takashi Fujii / フジイ タカシ |
| 第1著者 所属（和/英） |
広島市立大学大学院 (略称： 広島市大)
Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ |
| 第2著者 所属（和/英） |
広島市立大学 (略称： 広島市大)
Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
井上 智生 / Tomoo Inoue / イノウエ トモオ |
| 第3著者 所属（和/英） |
広島市立大学 (略称： 広島市大)
Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2006-11-28 16:35:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
DC |
| 資料番号 |
VLD2006-62, DC2006-49 |
| 巻番号（vol） |
vol.106 |
| 号番号（no） |
no.387(VLD), no.390(DC) |
| ページ範囲 |
pp.65-70 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2006-11-21 (VLD, DC) |
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