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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2007-01-18 10:55 ダイナミック電源雑音波形を考慮したデジタル信号遅延変動解析 ○深澤光弥・永田 真（神戸大） エレソ技報アーカイブへのリンク：  CPM2006-133 ICD2006-175 |
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| 抄録 | （和） | 本稿では，180-nm CMOSデジタル回路に100-ps/100-$mu$Vの分解能を持つ高精度オンチップ波形検出回路を適用し，ダイナミック電源雑音による遅延変動を測定した．また，雑音の主周波数成分から雑音波形を再現するシングルトーン雑音モデルを提案した．このモデルは論理ゲートにおける遷移信号波形の変動を効果的に捉えることができる．シミュレーションと実測では，雑音の大きさだけでなく，クロックドメイン間のクロック位相差による遅延変動への影響も良く一致している．提案したシュミレーション手法はダイナミック電源雑音を考慮した遅延解析を可能にし，従って，高速デジタル回路設計におけるタイミングクロージャの発展に寄与する． |
| （英） | Delay variability due to dynamic power supply noise is elucidated by on-chip signal waveform measurements at 100-ps/100-$\mu$V resolutions applied to a 180-nm CMOS digital circuit. A single-tone noise model represents a dynamic power supply noise waveform with the most significant frequency component and leads to circuit-level simulation that can efficiently capture the effects of switching signal waveform modulation on delay in a logic gate. Simulation and measurements show excellent agreement in delay variation, even with relative differences among clock domains in timing as well as in noise strength. The proposed delay simulation technique actualizes the delay analysis in consideration of dynamic power supply noise and thus consolidates the timing closure especially in a high speed digital design. | |
| キーワード | （和） | 遅延変動解析 / ダイナミック電源雑音 / シグナルインテグリティ / オンチップ波形検出技術 / / / / |
| （英） | Delay variation analysis / Dynamic Power supply noise / Signal integrity / On-chip waveform measurement / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 106, no. 468, ICD2006-175, pp. 25-29, 2007年1月. | |
| 資料番号 | ICD2006-175 | |
| 発行日 | 2007-01-11 (CPM, ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | エレソ技報アーカイブへのリンク：CPM2006-133 ICD2006-175 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD CPM |
| 開催期間 | 2007-01-18 - 2007-01-19 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kika-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般<オーガナイザ：益 一哉（東工大）> |
| テーマ（英） | LSI system assembly and module/inteface technology, test, general |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2007-01-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ダイナミック電源雑音波形を考慮したデジタル信号遅延変動解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Delay Variation Analysis in Consideration of Dynamic Power Supply Noise Waveform |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遅延変動解析 / Delay variation analysis |
| キーワード(2)（和/英） | ダイナミック電源雑音 / Dynamic Power supply noise |
| キーワード(3)（和/英） | シグナルインテグリティ / Signal integrity |
| キーワード(4)（和/英） | オンチップ波形検出技術 / On-chip waveform measurement |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 深澤 光弥 / Mitsuya Fukazawa / フカザワ ミツヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
| 第2著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2007-01-18 10:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | CPM2006-133, ICD2006-175 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | no.467(CPM), no.468(ICD) |
| ページ範囲 | pp.25-29 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2007-01-11 (CPM, ICD) |
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