| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2007-01-19 11:45
抽出レイアウト情報を用いたSoCマクロブロックの故障診断手法
○三浦克介・中前幸治（阪大） |
| 抄録 |
（和） |
レイアウト抽出ネットリストを用いたSoCマクロブロックの故障診断手法を提案している。設計時のネットリストが入手できないハードIPコアの診断を、レイアウトから抽出したネットリストを用いて行っている。LSIテスタの出力パターン (フェイルログ) による診断とプローバによる診断を組み合わせて、故障候補を絞り込む。故障出力の上流論理コーン領域についてのみネットリスト抽出を行うことで、対象回路サイズを小さくしている。診断用テストパターンを生成すると共に、レイアウトから抵抗・寄生容量を抽出し、フェイルログによる診断結果のスコアを修正することで、フェイルログによる診断の精度を高め、プローバでの測定回数を削減している。また、プローブ用のテストパターンを生成し、プローブ時間を短縮している。本手法をISCAS'85ベンチマーク回路から合成されたレイアウトに適用し、本手法の有効性を示す。 |
| （英） |
A SoC macro-block diagnostic method using a netlist extracted from layout data is proposed. A hard IP core that does not have the pre-designed netlist is diagnosed by using a netlist extracted from the layout. A prober is used after the device is diagnosed by using output patterns (fail log). A netlist is extracted only from the upstream logic cone area of the faulty output terminals. Therefore the size of circuit under diagnosis is reduced. Our method uses the test pattern for diagnosis and modifies the score of the diagnostic result by considering resistance and parasitic capacitance extracted from the layout in order to improve diagnostic resolution and reduce the number of the probing operations. We applied our method to the layout synthesized from the ISCAS'85 benchmark circuits in order to show its validity. |
| キーワード |
（和） |
大規模集積回路 / 故障診断 / 回路抽出 / プローバ / テストパターン / / / |
| （英） |
VLSI / fault diagnosis / circuit extraction / prober / test pattern / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 468, ICD2006-189, pp. 103-108, 2007年1月. |
| 資料番号 |
ICD2006-189 |
| 発行日 |
2007-01-11 (CPM, ICD) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
ICD CPM |
| 開催期間 |
2007-01-18 - 2007-01-19 |
| 開催地（和） |
機械振興会館 |
| 開催地（英） |
Kika-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） |
LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般<オーガナイザ：益 一哉（東工大）> |
| テーマ（英） |
LSI system assembly and module/inteface technology, test, general |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
ICD |
| 会議コード |
2007-01-ICD-CPM |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
抽出レイアウト情報を用いたSoCマクロブロックの故障診断手法 |
| サブタイトル（和） |
|
| タイトル（英） |
SoC macro-block diagnosis using extracted layout information |
| サブタイトル（英） |
|
| キーワード(1)（和/英） |
大規模集積回路 / VLSI |
| キーワード(2)（和/英） |
故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(3)（和/英） |
回路抽出 / circuit extraction |
| キーワード(4)（和/英） |
プローバ / prober |
| キーワード(5)（和/英） |
テストパターン / test pattern |
| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
三浦 克介 / Katsuyoshi Miura / ミウラ カツヨシ |
| 第1著者 所属（和/英） |
大阪大学 (略称： 阪大)
Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
中前 幸治 / Koji Nakamae / ナカマエ コウジ |
| 第2著者 所属（和/英） |
大阪大学 (略称： 阪大)
Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第3著者 所属（和/英） |
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| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2007-01-19 11:45:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
ICD |
| 資料番号 |
CPM2006-147, ICD2006-189 |
| 巻番号（vol） |
vol.106 |
| 号番号（no） |
no.467(CPM), no.468(ICD) |
| ページ範囲 |
pp.103-108 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2007-01-11 (CPM, ICD) |
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