講演抄録/キーワード |
講演名 |
2007-03-08 17:10
[招待講演]システムLSIにおける電源線雑音の測定・低減手法 ○池田 誠・浅田邦博(東大) エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2006-230 |
抄録 |
(和) |
本論文では、集積回路における雑音測定方式、および雑音の低減方式に関して、時間領域での雑音波形の取得、周波数領域での雑音スペクトルの取得、および基板雑音の能動的な軽減手法に関してのこれまでの研究動向に関して紹介し、今後の方向に関して検討している。 |
(英) |
This paper describes power bounce measurement technique in SoCs and active substrate noise reduction techniques. Noise measurement techniques are categorized into time-domain noise measurement techniques, frequency-domain noise/jitter measurement techniques. |
キーワード |
(和) |
電源雑音 / 基板雑音 / 雑音サンプリング / 雑音波形 / 雑音スペクトラム / パワーインテグリティ / / |
(英) |
Power line noise / Substrate noise / Noise sampling / Noise waveform / Noise spectrum / Power integrity / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 551, ICD2006-230, pp. 121-126, 2007年3月. |
資料番号 |
ICD2006-230 |
発行日 |
2007-03-01 (VLD, ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2006-230 |