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講演抄録/キーワード
講演名 2007-03-08 17:10
[招待講演]システムLSIにおける電源線雑音の測定・低減手法
池田 誠浅田邦博東大
抄録 (和) 本論文では、集積回路における雑音測定方式、および雑音の低減方式に関して、時間領域での雑音波形の取得、周波数領域での雑音スペクトルの取得、および基板雑音の能動的な軽減手法に関してのこれまでの研究動向に関して紹介し、今後の方向に関して検討している。 
(英) This paper describes power bounce measurement technique in SoCs and active substrate noise reduction techniques. Noise measurement techniques are categorized into time-domain noise measurement techniques, frequency-domain noise/jitter measurement techniques.
キーワード (和) 電源雑音 / 基板雑音 / 雑音サンプリング / 雑音波形 / 雑音スペクトラム / パワーインテグリティ / /  
(英) Power line noise / Substrate noise / Noise sampling / Noise waveform / Noise spectrum / Power integrity / /  
文献情報 信学技報, vol. 106, no. 551, ICD2006-230, pp. 121-126, 2007年3月.
資料番号 ICD2006-230 
発行日 2007-03-01 (VLD, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
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研究会情報
研究会 ICD VLD  
開催期間 2007-03-07 - 2007-03-09 
開催地(和) メルパルク沖縄 
開催地(英) Mielparque Okinawa 
テーマ(和) システムオンシリコン設計技術ならびにこれを活用したVLSI <オーガナイザ:小林 和淑(京都大学)> 
テーマ(英) System-on-silicon design techniques and related VLSs 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2007-03-ICD-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) システムLSIにおける電源線雑音の測定・低減手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Measurements and reduction of power line noises in SoCs 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 電源雑音 / Power line noise  
キーワード(2)(和/英) 基板雑音 / Substrate noise  
キーワード(3)(和/英) 雑音サンプリング / Noise sampling  
キーワード(4)(和/英) 雑音波形 / Noise waveform  
キーワード(5)(和/英) 雑音スペクトラム / Noise spectrum  
キーワード(6)(和/英) パワーインテグリティ / Power integrity  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 池田 誠 / Makoto Ikeda / イケダ マコト
第1著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Tokyo Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 浅田 邦博 / Kunihiro Asada /
第2著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Tokyo Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2007-03-08 17:10:00 
発表時間 50分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 VLD2006-139, ICD2006-230 
巻番号(vol) vol.106 
号番号(no) no.548(VLD), no.551(ICD) 
ページ範囲 pp.121-126 
ページ数
発行日 2007-03-01 (VLD, ICD) 


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