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講演抄録/キーワード
講演名 2007-03-08 14:30
回路構成の小変更に即した再配置手法
柳橋邦彦高島康裕北九州市大)・中村祐一NEC
抄録 (和) 本稿では, 既配置回路への小変更が行なわれたときの再配置手法を提案する. 提案手法では, 既配置(モデル配置)の構造を可能な限り維持する. そのためモデル配置との類似性の指標として, 回路を構成するモジュールの絶対座標のずれの最小化を行う. また, 最適化課程において, 解空間の制限, 配置の原点の変更等を導入し, 効率の良い高速な再配置を実現する. これらを容易に実現するため, 配置表現手法としてSequence-Pairを用いる. 計算機実験において, 提案手法がチップ面積の変化とモジュールのずれの総和の最小化により, モデル配置の構造をできるだけ維持した配置が生成されることを確認した. また, 通常のSimulated Annealing手法を用いた場合と比較し, 実行時間を98%削減した. 
(英) In this paper, we propose a novel migration method when the circuit with its placement is modified. In the method, its output placement keeps the structure of the original placement, called model placement, as possible. For the purpose, We minimize the total amount of displacement between the model placement and the relocated placement. Moreover, to archive a short run-time and efficiency, we employ the limitation of solution space and the change of packing origin in the optimization process. We construct the system on Sequence-Pair. Experimental results show that our approach preserves the chip area and the overall circuit structure with 98% less run-time than that by an ordinary Simulated Annealing.
キーワード (和) 非双逆順制約 / 回路構成小変更 / 再配置 / Sequence-Pair / Simulated Annealing / / /  
(英) Non full-reverse-order constraint / Circuit Modification / Relocation / Sequence-Pair / Simulated Annealing / / /  
文献情報 信学技報, vol. 106, no. 548, VLD2006-133, pp. 85-90, 2007年3月.
資料番号 VLD2006-133 
発行日 2007-03-01 (VLD, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
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研究会情報
研究会 ICD VLD  
開催期間 2007-03-07 - 2007-03-09 
開催地(和) メルパルク沖縄 
開催地(英) Mielparque Okinawa 
テーマ(和) システムオンシリコン設計技術ならびにこれを活用したVLSI <オーガナイザ:小林 和淑(京都大学)> 
テーマ(英) System-on-silicon design techniques and related VLSs 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2007-03-ICD-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 回路構成の小変更に即した再配置手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Relocation Method for Circuit Modification 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 非双逆順制約 / Non full-reverse-order constraint  
キーワード(2)(和/英) 回路構成小変更 / Circuit Modification  
キーワード(3)(和/英) 再配置 / Relocation  
キーワード(4)(和/英) Sequence-Pair / Sequence-Pair  
キーワード(5)(和/英) Simulated Annealing / Simulated Annealing  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 柳橋 邦彦 / Kunihiko Yanagibashi / ヤナギバシ クニヒコ
第1著者 所属(和/英) 北九州市立大学 (略称: 北九州市大)
The University of Kitakyushu (略称: Univ. of Kitakyushu)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 高島 康裕 / Yasuhiro Takashima / タカシマ ヤスヒロ
第2著者 所属(和/英) 北九州市立大学 (略称: 北九州市大)
The University of Kitakyushu (略称: Univ. of Kitakyushu)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 中村 祐一 / Yuichi Nakamura / ナカムラ ユウイチ
第3著者 所属(和/英) 日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
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講演者 第1著者 
発表日時 2007-03-08 14:30:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 VLD 
資料番号 VLD2006-133, ICD2006-224 
巻番号(vol) vol.106 
号番号(no) no.548(VLD), no.551(ICD) 
ページ範囲 pp.85-90 
ページ数
発行日 2007-03-01 (VLD, ICD) 


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