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講演抄録/キーワード
講演名 2007-03-09 08:40
4-2加算木を用いたテスト容易な乗算器
鬼頭信貴花井健輔高木直史名大
抄録 (和) 近年,VLSIの大規模化に伴いVLSIのテストのコストが上昇しており,テストコストの削減が求められている.4-2加算木を用いた乗算器は高速性とレイアウトの容易さが両立し,高速データパスに有用である.本稿では,Cell Fault Model (CFM)のもとで全加算器などをセルとして扱い,4-2加算木を用いたテスト容易な乗算器を示す.本稿では乗算器で最も大きな面積を占める4-2加算木について,4-2加算器間の接続を統一し,再帰的な構成にすることで,段数にテストパターン数が依存しない再帰的なテスト集合の生成できることを示す.また,部分積生成部を通した4-2加算木のテストを可能とする部分積生成部の設計法も示す. 
(英) The growth of the scale of VLSI designs makes test cost of VLSI chips expensive. Techniques of test cost reduction are required. A multiplier with a 4-2 adder tree, which is fast and has simple VLSI layout, is useful for a high-speed datapath. We present an easily testable multiplier with a 4-2 adder tree, with respect to the Cell Fault Model (CFM). We treat full adders as cells. We demonstrate a 4-2 adder tree, which has recursive configuration by unificating connection manner between 4-2 adders, has a test set which is derived recursively and whose size is independent of depth of the tree. Also, we demonstrate a design method of a partial product generation circuit to test a 4-2 adder tree through it.
キーワード (和) テスト生成 / 乗算器 / C-テスタビリティ / 4-2加算木 / / / /  
(英) test generation / multiplier / C-testability / 4-2 adder tree / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 106, no. 549, VLD2006-140, pp. 1-6, 2007年3月.
資料番号 VLD2006-140 
発行日 2007-03-02 (VLD, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
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研究会情報
研究会 ICD VLD  
開催期間 2007-03-07 - 2007-03-09 
開催地(和) メルパルク沖縄 
開催地(英) Mielparque Okinawa 
テーマ(和) システムオンシリコン設計技術ならびにこれを活用したVLSI <オーガナイザ:小林 和淑(京都大学)> 
テーマ(英) System-on-silicon design techniques and related VLSs 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2007-03-ICD-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 4-2加算木を用いたテスト容易な乗算器 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Easily Testable Multiplier with 4-2 Adder Tree 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) テスト生成 / test generation  
キーワード(2)(和/英) 乗算器 / multiplier  
キーワード(3)(和/英) C-テスタビリティ / C-testability  
キーワード(4)(和/英) 4-2加算木 / 4-2 adder tree  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 鬼頭 信貴 / Nobutaka Kito / キトウ ノブタカ
第1著者 所属(和/英) 名古屋大学 (略称: 名大)
Nagoya University (略称: Nagoya Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 花井 健輔 / Kensuke Hanai / ハナイ ケンスケ
第2著者 所属(和/英) 名古屋大学 (略称: 名大)
Nagoya University (略称: Nagoya Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 高木 直史 / Naofumi Takagi / タカギ ナオフミ
第3著者 所属(和/英) 名古屋大学 (略称: 名大)
Nagoya University (略称: Nagoya Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2007-03-09 08:40:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 VLD 
資料番号 VLD2006-140, ICD2006-231 
巻番号(vol) vol.106 
号番号(no) no.549(VLD), no.552(ICD) 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数
発行日 2007-03-02 (VLD, ICD) 


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