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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2007-04-20 15:45 GaInAsP/InPレーザの劣化解析技術 ○市川弘之・伊東雅史・福田智恵・浜田耕太郎・山口 章・中林隆志（住友電工）  R2007-6 CPM2007-6 OPE2007-6 エレソ技報アーカイブへのリンク：CPM2007-6 OPE2007-6 |
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| 抄録 | （和） | 我々は、光通信システムの光源に用いられるGaInAsP/InPレーザについて、信頼性向上のための劣化解析に取り組んできた。本報告では、信頼性の重要な指標の1つであるESD劣化機構を解析した結果を報告する。ESD劣化は電圧印加極性により劣化機構が異なり、LDに対して順方向では端面活性層での光吸収による溶解が要因だが、逆方向では活性層を含むpin接合部への電界集中が要因であることが分かった。 |
| （英） | ESD-induced degradation is one of the serious reliability problems of GaInAsP/InP LD. We have conducted an analysis on ESD-induced degradation, and clarified the principal mechanisms of degradations under the forward- and reverse-biased voltage conditions. In the case of forward-biased ESD, heating by light absorption at the active layer at a facet is the main cause of degradation. The mechanism of degradation induced by reverse-biased ESD is different. We found out that degradation is caused by the concentration of high electric field on a MQW. | |
| キーワード | （和） | GaInAsP / InP / ESD / / / / / |
| （英） | GaInAsP / InP / ESD / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 7, R2007-6, pp. 29-33, 2007年4月. | |
| 資料番号 | R2007-6 | |
| 発行日 | 2007-04-13 (R, CPM, OPE) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2007-6 CPM2007-6 OPE2007-6 エレソ技報アーカイブへのリンク：CPM2007-6 OPE2007-6 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM OPE R |
| 開催期間 | 2007-04-20 - 2007-04-20 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 光部品の実装・信頼性、一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2007-04-CPM-OPE-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | GaInAsP/InPレーザの劣化解析技術 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation analysis of GaInAsP/InP laser diode |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | GaInAsP / GaInAsP |
| キーワード(2)（和/英） | InP / InP |
| キーワード(3)（和/英） | ESD / ESD |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 市川 弘之 / Hiroyuki Ichikawa / イチカワ ヒロユキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 住友電気工業株式会社 (略称： 住友電工) Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称： Sumitomo Electric Industries) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊東 雅史 / Masashi Ito / イトウ マサシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 住友電気工業株式会社 (略称： 住友電工) Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称： Sumitomo Electric Industries) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 福田 智恵 / Chie Fukuda / フクダ チエ |
| 第3著者 所属（和/英） | 住友電気工業株式会社 (略称： 住友電工) Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称： Sumitomo Electric Industries) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 浜田 耕太郎 / Kotaro Hamada / ハマダ コウタロウ |
| 第4著者 所属（和/英） | 住友電気工業株式会社 (略称： 住友電工) Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称： Sumitomo Electric Industries) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山口 章 / Akira Yamaguchi / ヤマグチ アキラ |
| 第5著者 所属（和/英） | 住友電気工業株式会社 (略称： 住友電工) Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称： Sumitomo Electric Industries) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中林 隆志 / Takashi Nakabayashi / ナカバヤシ タカシ |
| 第6著者 所属（和/英） | 住友電気工業株式会社 (略称： 住友電工) Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称： Sumitomo Electric Industries) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2007-04-20 15:45:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2007-6, CPM2007-6, OPE2007-6 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.7(R), no.8(CPM), no.9(OPE) |
| ページ範囲 | pp.29-33 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2007-04-13 (R, CPM, OPE) |
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