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講演抄録/キーワード
講演名 2007-04-20 16:00
[招待講演]ITシステム高信頼化技術の動向と課題 ~ メインフレーム時代からオープン時代へ ~
庄内 亨日立CPSY2007-5 DC2007-5
抄録 (和) IT化の拡大によりIT障害回避の重要性が増している。価格低減圧力の下、今後のオープンシステムの高信頼化をどのように実現するかが大きな課題である。この課題を、信頼性技術の基本的フレームワークの明確化、過去におけるメインフレームやオープン系の高信頼化技術の動向調査・分析、最近の統計やシステム障害事例、ITトレンドなどから推定・分析し、今後の研究課題を提示する。その結果、オープン系の信頼性技術はメインフレームに迫っている、今後は高信頼性を低価格で実現する必要がある、従来あまり対策されて来なかった人間系やxSPサービスを含んだ信頼性などの向上策が必要であることがわかった。 
(英) Wide use of information technology increases the importance of information system failure avoidance. It is a problem to make information systems integrated with open IT component more dependable under the pressure of lower prices. We address this problem by clarifying the basic framework of information systems reliability, surveying reliability technology which have been used in mainframes and open systems, and analyzing statistics and actual cases of recent information system failures. It is obtained that the reliability of open systems is becoming close to that of mainframes, that it is required to achive higher reliability and lower prices at the same time, and that it is necessary to level up the reliability including human operators and xSP services that have attracted less attention ever.
キーワード (和) IT / 信頼性 / メインフレーム / オープン / フォルトトレラント / 障害 / 事例 /  
(英) IT / reliability / mainframes / open / fault-tolerant / failure / case-study /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 16, CPSY2007-5, pp. 25-30, 2007年4月.
資料番号 CPSY2007-5 
発行日 2007-04-13 (CPSY, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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PDFダウンロード CPSY2007-5 DC2007-5

研究会情報
研究会 CPSY DC  
開催期間 2007-04-20 - 2007-04-20 
開催地(和) 産総研臨海副都心センター 
開催地(英)  
テーマ(和) ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術(および一般) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 CPSY 
会議コード 2007-04-CPSY-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ITシステム高信頼化技術の動向と課題 
サブタイトル(和) メインフレーム時代からオープン時代へ 
タイトル(英) Trends and Future Problems of IT Systems High Availablity 
サブタイトル(英) From Mainframes to Open Systems 
キーワード(1)(和/英) IT / IT  
キーワード(2)(和/英) 信頼性 / reliability  
キーワード(3)(和/英) メインフレーム / mainframes  
キーワード(4)(和/英) オープン / open  
キーワード(5)(和/英) フォルトトレラント / fault-tolerant  
キーワード(6)(和/英) 障害 / failure  
キーワード(7)(和/英) 事例 / case-study  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 庄内 亨 / Toru Shonai / ショウナイ トオル
第1著者 所属(和/英) (株)日立製作所 中央研究所 (略称: 日立)
Hitachi, Ltd., Central Research Laboratory (略称: Hitachi)
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講演者 第1著者 
発表日時 2007-04-20 16:00:00 
発表時間 40分 
申込先研究会 CPSY 
資料番号 CPSY2007-5, DC2007-5 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.16(CPSY), no.17(DC) 
ページ範囲 pp.25-30 
ページ数
発行日 2007-04-13 (CPSY, DC) 


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