| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2007-04-20 13:35
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 加振装置試作 ~ ○和田真一・園田健人・片桐要祐・高橋康夫・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤 孝一郎(慶大) EMD2007-1 |
| 抄録 |
(和) |
電子技術にとって重要な課題である電気接点の高信頼性化に向けて,電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した.本機構では,自由落方式で打撃し,ワンウェイクラッチを装備することで再度被加振部に衝突することを制限した.実験室環境下で,コネクタに定電流を流し,電圧を測定した.加振回数400万回超の頃から,接触抵抗値が増加したとみられる測定電圧が上昇傾向となり,最大値約4.0[V]超から最小値約0.1[V]の間を振動した.このことにより,本加振機構によれば,コネクタ接点の接触抵抗の振動特性が見られることが示された.これにより,コネクタの接触面においてフレッティング現象が発生していることが示唆された.また、加振周期を、約1Hzから約3Hzにしたところ,現象の発生時期が短縮された.また、通電電流を増減させたところ,現象の発生に関連していることが示唆された. |
| (英) |
(Not available yet) |
| キーワード |
(和) |
電気接点 / 加振機構 / 微小振動 / 接触抵抗 / / / / |
| (英) |
electrical contact / oscillating mechanism / micro-oscillating / contact resistance / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 107, no. 12, EMD2007-1, pp. 1-4, 2007年4月. |
| 資料番号 |
EMD2007-1 |
| 発行日 |
2007-04-13 (EMD) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
EMD2007-1 |