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講演抄録/キーワード
講演名 2007-06-07 15:55
大規模アレイTEGによるトンネル絶縁膜の微小・局所的ゲート電流の統計的評価
熊谷勇喜寺本章伸須川成利諏訪智之大見忠弘東北大SDM2007-36
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 107, no. 85, SDM2007-36, pp. 27-32, 2007年6月.
資料番号 SDM2007-36 
発行日 2007-05-31 (SDM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SDM2007-36

研究会情報
研究会 SDM  
開催期間 2007-06-07 - 2007-06-08 
開催地(和) 広島大学(学士会館) 
開催地(英) Hiroshima Univ. ( Faculty Club) 
テーマ(和) ゲート絶縁膜、容量膜、機能膜およびメモリ技術 (応用物理学会、シリコンテクノロジ分科会、研究集会「ゲートスタック構造の新展開(案)」との合同開催) 
テーマ(英) Sci. & Technol. for Thin Dielectrics for MIS Devices 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2007-06-SDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 大規模アレイTEGによるトンネル絶縁膜の微小・局所的ゲート電流の統計的評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Statistical Evaluation of Localized Low Gate Current through Tunnel Dielectric using Integrated Array TEG 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 熊谷 勇喜 / Yuki Kumagai / クマガイ ユウキ
第1著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 寺本 章伸 / Akinobu Teramoto / テラモト アキノブ
第2著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 須川 成利 / Shigetoshi Sugawa / スガワ シゲトシ
第3著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 諏訪 智之 / Tomoyuki Suwa / スワ トモユキ
第4著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 大見 忠弘 / Tadahiro Ohmi / オオミ タダヒロ
第5著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2007-06-07 15:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 SDM2007-36 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.85 
ページ範囲 pp.27-32 
ページ数
発行日 2007-05-31 (SDM) 


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