| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2007-07-27 13:50
Nb/AlOx/Nb接合の特性電圧の評価
○前澤正明・平山文紀（産総研） |
| 抄録 |
（和） |
ジョセフソン接合の臨界電流Icと常伝導状態抵抗Rnの積として定義される特性電圧Vc(= IcRn)は、エレクトロニクス応用およびデバイス物理の両面で重要なパラメータである。トンネル型ジョセフソン接合の特性電圧Vcの正確な測定方法を検討し、産総研標準Nb/AlOx/Nb接合プロセスで作製した試料において統計的な測定を行った。測定温度4.2 KにおけるVc測定値の平均は約1.7 mVであり、Ambegaokar-Baratoff理論から予測される値より約25%低いことがわかった。実験と理論の不一致の原因にはいくつかの可能性が考えられるが、現時点では主因は特定できていない。 |
| （英） |
The characteristic voltage Vc of Josephson junctions, which is defined as a product of the critical current Ic and normal-state resistance Rn, is a key parameter in the electronics applications and also in the Josephson-device physics. We propose a precise method for evaluating the characteristic voltage Vc of superconductor-insulator-superconductor-type Josephson junctions. Statistical data for Nb/AlOx/Nb junctions fabricated by using the AIST standard Nb technology are presented. The average of the experimental Vc was approximately 1.7 mV at 4.2 K, 75% of the predicted value by the Ambegaokar-Baratoff theory. The main cause of the discrepancy between the experiment and theory is not clear at the moment. |
| キーワード |
（和） |
ジョセフソン接合 / Nb/AlOx/Nb / 超伝導デバイス / 特性電圧 / IcRn積 / / / |
| （英） |
Josephson junction / Nb/AlOx/Nb / Superconductor device / Characteristic voltage / IcRn product / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 107, no. 171, SCE2007-17, pp. 27-32, 2007年7月. |
| 資料番号 |
SCE2007-17 |
| 発行日 |
2007-07-20 (SCE) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
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