お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2007-08-23 12:50
[特別招待講演]DVS/DVFS技術による低電力化の今後
水野弘之日立SDM2007-148 ICD2007-76 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2007-148 ICD2007-76
抄録 (和) LSIの低電力化手法であるDVS/DVFS技術について、その有効性と課題の両面で考察を行った。有効性については、充放電電流による電力消費の削減効果(V^3)やそのエネルギー削減効果(V^2)に加えて、リーク電流の削減効果についても検討し、現状ではVの1.5乗に比例して削減できることを示した。また、さらなるリーク電流の削減のために電源遮断方式との併用の方法について考察を行った。今後の展望については、回路の低電圧動作の他に「性能が必要でない期間」を見つけ出す、あるいは、作り出すことが重要であることを述べた。 
(英) Effectiveness and issue for Dynamic Voltage Scaling (DVS) have been described. Both dynamic and leakage power reduction effects have been evaluated. DVS can reduce the leakage current, however combination with power-gating scheme is better way to reduce the leakage. Low-voltage operation of the circuit is important for the DVS, but additionally it will become more important to find and/or make the period when the circuit can operate in low frequency.
キーワード (和) DVS / 低電力化 / リーク電流 / 低電圧回路 / / / /  
(英) Dynamic voltage scaling / DVS / low power / leakage current / low-voltage circuit / / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 195, ICD2007-76, pp. 41-46, 2007年8月.
資料番号 ICD2007-76 
発行日 2007-08-16 (SDM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SDM2007-148 ICD2007-76 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2007-148 ICD2007-76

研究会情報
研究会 ICD SDM  
開催期間 2007-08-23 - 2007-08-24 
開催地(和) 北見工業大学 
開催地(英) Kitami Institute of Technology 
テーマ(和) VLSI回路、デバイス技術(高速、低電圧、低消費電力)<オーガナイザ:榎本忠儀(中央大学)> 
テーマ(英) VLSI Circuit and Device Technologies (High Speed, Low Voltage, and Low Power Consumption) 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2007-08-ICD-SDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) DVS/DVFS技術による低電力化の今後 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Past and Future of Dynamic Voltage Scaling 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) DVS / Dynamic voltage scaling  
キーワード(2)(和/英) 低電力化 / DVS  
キーワード(3)(和/英) リーク電流 / low power  
キーワード(4)(和/英) 低電圧回路 / leakage current  
キーワード(5)(和/英) / low-voltage circuit  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 水野 弘之 / Hiroyuki Mizuno / ミズノ ヒロユキ
第1著者 所属(和/英) (株)日立製作所 (略称: 日立)
Hitachi, Ltd. (略称: Hitachi)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第2著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第3著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2007-08-23 12:50:00 
発表時間 50分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 SDM2007-148, ICD2007-76 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.194(SDM), no.195(ICD) 
ページ範囲 pp.41-46 
ページ数
発行日 2007-08-16 (SDM, ICD) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会