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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2007-09-14 13:40 LSI回路のX故障による Per-Test 故障診断手法の拡張について ○中村優介・大和勇太・温 暁青・宮瀬紘平・梶原誠司（九工大）・K. K. サルージャ（ウィスコンシン大）  R2007-33 |
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| 抄録 | （和） | LSIの微細化・高速化により，欠陥の振舞いは複雑化し，複数の欠陥が回路内に生じることが増えてきた．このような回路を精確に診断するためにX故障モデルによるPer-Test診断手法が提案されている．しかし、微細化LSIの特徴でもある，ビア，バッファの存在，閾値電圧の順序関係などには対応していなかった．本論文ではこれらの問題を解決するために，ビア，バッファを考慮したX故障モデル，閾値電圧の順序関係を考慮した診断値計算手法をX故障によるPer-Test診断手法に導入し，実験結果によって有効性を示す． |
| （英） | The behavior of defects has become complex and more than one defects often occur in a single circuit due to shrinking feature sizes and high performance of LSI. However，the extensive use of vias and buffers，and the unpredictable order relation among threshold voltages at fanout branches，both being typical phenomena in a deep-submicron circuit，have not been fully addressed by conventional Per-Test X-fault diagnosis. To solve these problem，this paper proposes an improved Per-Test X-fault diagnosis method，an expanded X-fault model to handle via and buffer，and occurrence probabilities of logic behavior for a physical defect to handle the unpredictable relation among threshold voltages. Experimental results show the effectiveness of the proposal method. | |
| キーワード | （和） | 故障診断 / 故障モデル / X故障モデル / / / / / |
| （英） | fault diagnosis / fault model / X-fault model / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 213, R2007-33, pp. 23-28, 2007年9月. | |
| 資料番号 | R2007-33 | |
| 発行日 | 2007-09-07 (R) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2007-33 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2007-09-14 - 2007-09-14 |
| 開催地（和） | 高知工科大学 |
| 開催地（英） | Kochi Univ. of Technology |
| テーマ（和） | ＬＳＩの評価・診断・解析及び、品質 |
| テーマ（英） | For LSI, evaluation, fault diagnosis, physical analysis and quality |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2007-09-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | LSI回路のX故障による Per-Test 故障診断手法の拡張について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An expanded Per-Test X-Fault Diagnosis Method for LSI Circuits |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(2)（和/英） | 故障モデル / fault model |
| キーワード(3)（和/英） | X故障モデル / X-fault model |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中村 優介 / Yusuke Nakamura / ナカムラ ユウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大和 勇太 / Yuta Yamato / ヤマト ユウタ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第5著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | K. K. サルージャ / K. K. Saluja / K. K. サルージャ |
| 第6著者 所属（和/英） | ウィスコンシン大学 (略称： ウィスコンシン大) University of Wisconsin (略称： Univ. of Wisconsin) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2007-09-14 13:40:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2007-33 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.213 |
| ページ範囲 | pp.23-28 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2007-09-07 (R) |
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