| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2007-09-14 11:20 RC回路網による故障モデルの考案とトランジスタレベル故障診断試行 ○吉澤 豊（NECエレクトロニクス）  R2007-31 |
|
| 抄録 | （和） | ＲＣ回路網による故障モデルを考案した。 本モデルによりショート故障、抵抗性ショート／オープン故障、オープン故障とこれらの故障による回路の異常動作を表現できる。 実際の故障解析事例（オープン故障、ショート故障、抵抗性オープンによる遅延故障）を題材に、本故障モデルをセル内のトランジスタ回路に挿入しSPICE による故障シミュレーションを行うことで、事例の故障動作を良好に再現できることを示した。 また、本モデルを用いて故障診断を試行し、STARCが開発したスイッチレベルシミュレーターを使用するセル内故障診断技術による結果と比較した。 |
| （英） | I introduce an idea of fault model by RC network. By using this model, not only short fault, resistive short/open fault and open fault, but also delay fault which occurs in the circuit function can be expressed. And we can reproduce fail functions by SPICE simulation using this model. And I tried fault diagnosis with using this model. Then, I compared the result by this method with the result of the method of using switch level simulator. | |
| キーワード | （和） | 故障診断 / 故障モデル / RC 回路網 / トランジスタレベル回路 / SPICE / / / |
| （英） | Fault diagnosis / Fault model / RC network / Transistor level circuit / SPICE / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 213, R2007-31, pp. 11-16, 2007年9月. | |
| 資料番号 | R2007-31 | |
| 発行日 | 2007-09-07 (R) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2007-31 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2007-09-14 - 2007-09-14 |
| 開催地（和） | 高知工科大学 |
| 開催地（英） | Kochi Univ. of Technology |
| テーマ（和） | ＬＳＩの評価・診断・解析及び、品質 |
| テーマ（英） | For LSI, evaluation, fault diagnosis, physical analysis and quality |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2007-09-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | RC回路網による故障モデルの考案とトランジスタレベル故障診断試行 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An idea of fault model by RC network, and the transistor level fault diagnosis trial. |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障診断 / Fault diagnosis |
| キーワード(2)（和/英） | 故障モデル / Fault model |
| キーワード(3)（和/英） | RC 回路網 / RC network |
| キーワード(4)（和/英） | トランジスタレベル回路 / Transistor level circuit |
| キーワード(5)（和/英） | SPICE / SPICE |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉澤 豊 / Yutaka Yoshizawa / |
| 第1著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス株式会社 (略称： NECエレクトロニクス) NEC Electoronics Corporation (略称： NEC Electoronics) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2007-09-14 11:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2007-31 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.213 |
| ページ範囲 | pp.11-16 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2007-09-07 (R) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]