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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2007-09-14 10:55 トランジスタ動作点解析による故障論理の追跡 ～ フィードバック故障による発振現象の取得 ～ ○真田 克・中村朋矢・橋田啓示（高知工科大）  R2007-30 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 213, R2007-30, pp. 5-10, 2007年9月. | |
| 資料番号 | R2007-30 | |
| 発行日 | 2007-09-07 (R) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2007-30 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2007-09-14 - 2007-09-14 |
| 開催地（和） | 高知工科大学 |
| 開催地（英） | Kochi Univ. of Technology |
| テーマ（和） | ＬＳＩの評価・診断・解析及び、品質 |
| テーマ（英） | For LSI, evaluation, fault diagnosis, physical analysis and quality |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2007-09-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | トランジスタ動作点解析による故障論理の追跡 |
| サブタイトル（和） | フィードバック故障による発振現象の取得 |
| タイトル（英） | Fault logic trace by Using Transistor Operating Point Analysis |
| サブタイトル（英） | Diagnosis of Feed Back Fault with Oscillating Phenomenon |
| キーワード(1)（和/英） | / |
| キーワード(2)（和/英） | / |
| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 真田 克 / Masaru Sanada / サナダ マサル |
| 第1著者 所属（和/英） | 高知工科大学 (略称： 高知工科大) Kochi University of Technology (略称： KUT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中村 朋矢 / Tonoya Nakamura / ナカムラ トモヤ |
| 第2著者 所属（和/英） | 高知工科大学 (略称： 高知工科大) Kochi University of Technology (略称： KUT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋田 啓示 / Keishi Hashida / |
| 第3著者 所属（和/英） | 高知工科大学 (略称： 高知工科大) Kochi University of Technology (略称： KUT) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2007-09-14 10:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2007-30 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.213 |
| ページ範囲 | pp.5-10 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2007-09-07 (R) |
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