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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2007-10-16 11:00 テスト実行コストを考慮したペアワイズテストセット生成法の提案 ○紀本 眞・土屋達弘・菊野 亨（阪大）  DE2007-123 DC2007-20 |
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| 抄録 | （和） | ソフトウェア開発におけるテスト工程のコストを 効果的に削減する手法の一つに， ペアワイズテストという手法がある． この手法では，テストパラメータのペアに着目して， 全てのペアについて可能な値の組合せ全てをテストする． ペアワイズテストに必要なテストケースを求める従来手法では， テストケースの総数を少なく抑えることが可能であるが， テストパラメータの変更にかかるコストが考慮されていない． そこで，このようなコストを考慮した上で， テスト全体にかかるコストを削減する手法を提案する． |
| （英） | Pairwise testing is a software testing strategy that aims to reduce the cost of testing. This strategy requires that all possible pairs of input parameters be covered by at least one testcase. Although existing techniques for pairwise testcase generation aim to reduce the size of generated test suites, they do not explicitly consider the cost of test execution. In practical situations, testcases are sequentially executed. If two consecutive testcases require setting up different system configurations, additional cost may be incurred in changing the configurations. This paper proposes two algorithms to construct pairwise test suites of both small size and low cost. |
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| キーワード | （和） | ペアワイズテスト / ソフトウェアテスト / テストケース生成 / テスト実行コスト / / / / |
| （英） | pairwise testing / software testing / testcase generation / test execution cost / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 255, DC2007-20, pp. 47-50, 2007年10月. | |
| 資料番号 | DC2007-20 | |
| 発行日 | 2007-10-08 (DE, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DE2007-123 DC2007-20 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DE DC |
| 開催期間 | 2007-10-15 - 2007-10-16 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | インターネット環境でのデータ工学とディペンダビリティ、および 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2007-10-DE-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | テスト実行コストを考慮したペアワイズテストセット生成法の提案 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Designing Pairwise Testsets that Optimize Executing Cost |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ペアワイズテスト / pairwise testing |
| キーワード(2)（和/英） | ソフトウェアテスト / software testing |
| キーワード(3)（和/英） | テストケース生成 / testcase generation |
| キーワード(4)（和/英） | テスト実行コスト / test execution cost |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 紀本 眞 / Shin Kimoto / キモト シン |
| 第1著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 土屋 達弘 / Tatsuhiro Tsuchiya / ツチヤ タツヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 菊野 亨 / Tohru Kikuno / キクノ トオル |
| 第3著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2007-10-16 11:00:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DE2007-123, DC2007-20 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.254(DE), no.255(DC) |
| ページ範囲 | pp.47-50 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2007-10-08 (DE, DC) |
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