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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2007-10-16 11:30 Evaluation Model of Pseudo Random Pattern Quality for Logic BIST ○Satoshi Fukumoto・Harunobu Kurokawa・Masayuki Arai・Kazuhiko Iwasaki（Tokyo Metropolitan Univ.）  DE2007-124 DC2007-21 |
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| 抄録 | （和） | 本稿では，ランダムパターンテストにおける故障検出率分布の確率統計的な解析について議論する．ランダムパターンテストにおいて，各故障で生起する“検出”と“未検出”の事象を，整数値“０”と“１”に写像した確率変数を導入し，これを基に構築される確率的評価モデルによって故障検出率分布の評価手法を考える．はじめに，ひとつのテスト系列に含まれる個別テストパターンのテスト結果リストから，極めて精度良く検出故障数分布ひいては故障検出率分布の期待値を算出できることを示す． |
| （英） | In this paper, we discuss the stochastic and statistical analyses on the distribution of fault coverage in random-pattern testing. We introduce the stochastic variable which maps the events of detection and non-detection of each fault on a random-pattern testing into the integers 1 and 0 respectively. Based on this stochastic variable, we establish the stochastic evaluation model and investigate the estimation of the distribution of fault coverage. We show that the expected number of detected faults and/or fault coverage can be estimated precisely from the test results for individual test patterns in one test sequence. We propose computational approach for nonparametric estimation of the distribution of fault coverage. Re-sampling from the results for individual test patterns in about 2 to 10 test sequences enables us to effectively generate the histogram for the distribution of fault coverage. |
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| キーワード | （和） | 組み込み自己テスト / 線形帰還シフトレジスタ / ランダムパターンテスト / 故障検出率 / リサンプリング / / / |
| （英） | built-in self test / linear feedback shift register / random pattern testing / fault coverage / re-sampling / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 255, DC2007-21, pp. 51-56, 2007年10月. | |
| 資料番号 | DC2007-21 | |
| 発行日 | 2007-10-08 (DE, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DE2007-124 DC2007-21 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DE DC |
| 開催期間 | 2007-10-15 - 2007-10-16 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | インターネット環境でのデータ工学とディペンダビリティ、および 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2007-10-DE-DC |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation Model of Pseudo Random Pattern Quality for Logic BIST |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 組み込み自己テスト / built-in self test |
| キーワード(2)（和/英） | 線形帰還シフトレジスタ / linear feedback shift register |
| キーワード(3)（和/英） | ランダムパターンテスト / random pattern testing |
| キーワード(4)（和/英） | 故障検出率 / fault coverage |
| キーワード(5)（和/英） | リサンプリング / re-sampling |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 福本 聡 / Satoshi Fukumoto / フクモト サトシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 黒川 晴申 / Harunobu Kurokawa / クロカワ ハルノブ |
| 第2著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岩崎 一彦 / Kazuhiko Iwasaki / イワサキ カズヒコ |
| 第4著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2007-10-16 11:30:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DE2007-124, DC2007-21 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.254(DE), no.255(DC) |
| ページ範囲 | pp.51-56 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2007-10-08 (DE, DC) |
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