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講演抄録/キーワード
講演名 2007-10-19 09:55
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 摺動接触機構との比較 ~
和田真一園田健人天尾裕士高橋康夫菊地光男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎古賀 圭慶大EMD2007-57 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2007-57
抄録 (和) 電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した.本機構では,加振回数が約250万回超の頃から,換算接触抵抗値が増加傾向となり,約400万回超からは,200Ωを超えるときが増えた.700万回からは,最大値約570Ωから最小値約175Ωの間を変動した。一方、比較として、摺動接触機構を持つ装置を試作し、連続摺動によって電気接点の劣化現象を測定することができた.摺動回数1.7万回超の頃から,接触抵抗値が増加傾向となり,換算接触抵抗値が,最大値約250Ωから最小値約20Ωの間を変動した。2つの機構は,その操作方法及び操作回数に相違があるものの,接触抵抗値の変動現象には類似点が見られた. 
(英) We developed the mechanism which gives vibration to electrical contacts by hammering and studied the influences of a micro-oscillating on these. Over 2.5 millions of hammering, the resistance of the contacts started increasing. Over 4 millions of hammering, the resistance often exceeded 200Ω. And over 7 millions of hammering, this fluctuated between 175Ω and 570Ω.
On the other hand, we also developed the mechanism which gives sliding to electrical contacts for comparison. This mechanism could detect the degradation phenomenon on these by influences of repeated sliding operations. Over 17 thousand of sliding, the resistance of the contacts started increasing, and after that the resistance fluctuated in between 20Ω and 250Ω. Although the two mechanisms are completely different( in methods, numbers, etc ), the results of two test were almost similar on the oscillational phenomenon.
キーワード (和) 電気接点 / 加振機構 / 微小振動 / 接触抵抗 / 摺動接触 / 摺動機構 / /  
(英) electrical contact / oscillating mechanism / micro-oscillation / contact resistance / sliding contact / sliding mechanism / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 272, EMD2007-57, pp. 7-12, 2007年10月.
資料番号 EMD2007-57 
発行日 2007-10-12 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMD2007-57 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2007-57

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2007-10-19 - 2007-10-19 
開催地(和) 慶応義塾大学(日吉キャンパス) 
開催地(英) Keio Univ. Hiyoshi Campus 
テーマ(和) トライボロジー/一般 (共催:日本トライボロジー学会固体潤滑研究会,および継電器・コンタクトテクノロジー研究会) 
テーマ(英) Tribology, etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2007-10-EMD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) 摺動接触機構との比較 
タイトル(英) Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism 
サブタイトル(英) Relation to sliding contact mechanism 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 加振機構 / oscillating mechanism  
キーワード(3)(和/英) 微小振動 / micro-oscillation  
キーワード(4)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(5)(和/英) 摺動接触 / sliding contact  
キーワード(6)(和/英) 摺動機構 / sliding mechanism  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co., Ltd. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 園田 健人 / Taketo Sonoda / ソノダ タケト
第2著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co., Ltd. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 天尾 裕士 / Hiroshi Amao / アマオ ユウジ
第3著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co., Ltd. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 康夫 / Yasuo Takahashi / タカハシ ヤスオ
第4著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co., Ltd. (略称: TMC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 菊地 光男 / Mitsuo Kikuchi / キクチ ミツオ
第5著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co., Ltd. (略称: TMC)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第6著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co., Ltd. (略称: TMC)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第7著者 所属(和/英) 慶応義塾大学理工学部 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 古賀 圭 / Kei Koga / コガ ケイ
第8著者 所属(和/英) 慶応義塾大学理工学部 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2007-10-19 09:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 EMD2007-57 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.272 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数
発行日 2007-10-12 (EMD) 


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