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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2007-10-22 15:45 組込みシステムの外部環境に着目した動作仕様検証 ○金川太俊・瀬戸敏喜・谷口 奨・吉田 純・鵜林尚靖（九工大）・鷲見 毅・平山雅之（東芝）  SS2007-32 |
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| 抄録 | （和） | 組込みシステムの多くはセンサやアクチュエータを通して外部のコンテキストから影響を受ける．そこで我々はそれらの影響を分析するための手法を提案している．本論文ではコンテキスト分析の結果が正しいかを検証する方法について述べる．外部のコンテキストから影響を受ける組込みシステムについてVDMとSPINを用い、機能的側面からの検証と、システムの振舞いについての検証を行うことが我々のアプローチである． |
| （英） | Many of the embedded systems not only affect their external contexts through actuators but also are affected by their environments through sensors. Therefore we suggest a method to analyze those contexts. This paper shows how to verify the correctness of the result of context analysis. In our approach, VDM and SPIN are used for checking the functionally and behavior of embedded system that take into account the external context. | |
| キーワード | （和） | 組込みシステム / 外部環境 / 形式手法 / / / / / |
| （英） | Embedded System / Context / Formal Methods / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 275, SS2007-32, pp. 13-18, 2007年10月. | |
| 資料番号 | SS2007-32 | |
| 発行日 | 2007-10-15 (SS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SS2007-32 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SS |
| 開催期間 | 2007-10-22 - 2007-10-23 |
| 開催地（和） | 宮城大学 |
| 開催地（英） | Miyagi Univ. |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | general |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SS |
| 会議コード | 2007-10-SS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 組込みシステムの外部環境に着目した動作仕様検証 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Behavior Verification for Embedded Systems Focusing on System Contexts |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 組込みシステム / Embedded System |
| キーワード(2)（和/英） | 外部環境 / Context |
| キーワード(3)（和/英） | 形式手法 / Formal Methods |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 金川 太俊 / Hirotoshi Kanagawa / カナガワ ヒロトシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 瀬戸 敏喜 / Toshiki Seto / セト トシキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 谷口 奨 / Susumu Taniguchi / タニグチ ススム |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉田 純 / Jyun Yoshida / ヨシダ ジュン |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鵜林 尚靖 / Naoyasu Ubayashi / ウバヤシ ナオヤス |
| 第5著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鷲見 毅 / Takeshi Sumi / スミ タケシ |
| 第6著者 所属（和/英） | 株式会社 東芝 (略称： 東芝) TOSHIBA (略称： TOSHIBA) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 平山 雅之 / Masayuki Hirayama / ヒラヤマ マサユキ |
| 第7著者 所属（和/英） | 株式会社 東芝 (略称： 東芝) TOSHIBA (略称： TOSHIBA) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2007-10-22 15:45:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | SS |
| 資料番号 | SS2007-32 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.275 |
| ページ範囲 | pp.13-18 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2007-10-15 (SS) |
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