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講演抄録/キーワード
講演名 2007-10-30 14:10
シミュレーションを用いた微小MOSFETにおける寄生抵抗の解析および抽出方法の検討
辻井秀二外園 明藤原 実川中 繁東 篤志青木伸俊豊島義明東芝VLD2007-56 SDM2007-200
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 107, no. 297, SDM2007-200, pp. 27-32, 2007年10月.
資料番号 SDM2007-200 
発行日 2007-10-23 (VLD, SDM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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研究会情報
研究会 SDM VLD  
開催期間 2007-10-30 - 2007-10-31 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) プロセス・デバイス・回路シミュレーションおよび一般 
テーマ(英) Process, Device, Circuit Simulation, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2007-10-SDM-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) シミュレーションを用いた微小MOSFETにおける寄生抵抗の解析および抽出方法の検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Study of Parasitic Resistance Behavior and Its Extraction Method on Deeply Scaled MOSFETs 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 辻井 秀二 / Hideji Tsujii / ツジイ ヒデジ
第1著者 所属(和/英) 株式会社 東芝 (略称: 東芝)
Toshiba Corporation (略称: Toshiba)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 外園 明 / Akira Hokazono / ホカゾノ アキラ
第2著者 所属(和/英) 株式会社 東芝 (略称: 東芝)
Toshiba Corporation (略称: Toshiba)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤原 実 / Makoto Fujiwara / フジワラ マコト
第3著者 所属(和/英) 株式会社 東芝 (略称: 東芝)
Toshiba Corporation (略称: Toshiba)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 川中 繁 / Shigeru Kawanaka / カワナカ シゲル
第4著者 所属(和/英) 株式会社 東芝 (略称: 東芝)
Toshiba Corporation (略称: Toshiba)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 東 篤志 / Atsushi Azuma / アズマ アツシ
第5著者 所属(和/英) 株式会社 東芝 (略称: 東芝)
Toshiba Corporation (略称: Toshiba)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 青木 伸俊 / Nobutoshi Aoki / アオキ ノブトシ
第6著者 所属(和/英) 株式会社 東芝 (略称: 東芝)
Toshiba Corporation (略称: Toshiba)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 豊島 義明 / Yoshiaki Toyoshima / トヨシマ ヨシアキ
第7著者 所属(和/英) 株式会社 東芝 (略称: 東芝)
Toshiba Corporation (略称: Toshiba)
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講演者 第1著者 
発表日時 2007-10-30 14:10:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 VLD2007-56, SDM2007-200 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.295(VLD), no.297(SDM) 
ページ範囲 pp.27-32 
ページ数
発行日 2007-10-23 (VLD, SDM) 


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